應(yīng)用X射線定向儀的晶體快速定向法

前言
第一章 晶體學(xué)的基礎(chǔ)知識
1.1 晶體的一般概念
1.2 晶體的分類
1.3 晶體的通性
1.4 晶體的幾何學(xué)
1.4.1 晶體的對稱性
1.4.2 晶體的外形
1.4.3 晶面有理數(shù)定理
1.4.4 晶面符號
1.5 晶體坐標(biāo)軸的選擇規(guī)則
1.6 晶帶
1.7 面間距d的計算
1.8 230種空間群
參考文獻(xiàn)
第二章 X射線衍射的基本知識
2.1 X射線
2.1.1 X射線的名稱及其性質(zhì)
2.1.2 X射線的產(chǎn)生
2.1.3 X射線譜
2.1.4 X射線的吸收
2.2 X射線在點陣平面上的反射
2.2.1 布喇格定律
2.2.2 系統(tǒng)消光及其應(yīng)用
參考文獻(xiàn)
第三章 X射線定向儀
3.1 概述
3.2 定向原理與常規(guī)應(yīng)用
3.3 X射線管與譜線的選擇
3.4 雙反射單色器
3.5 蓋革計數(shù)管及其電路
3.6 儀器零位調(diào)整
3.6.1 X射線管位置的調(diào)整
3.6.2 單反射型調(diào)零
3.6.3 雙反射型調(diào)零
3.7 儀器維修
參考文獻(xiàn)
第四章 晶體的快速定向法
4.1 關(guān)于晶體定向的概念
4.2 晶面夾角的計算及其在定向中的應(yīng)用
4.3 棒狀晶體的快速定向法
4.3.1 人工合成棒狀晶體結(jié)晶學(xué)特性
4.3.1 定向方法
4.4 測定（hkl）面族中多級衍射等偏角的簡易定向法
4.4.1 基本概念和原理
4.4.2 定向方法
4.4.3 應(yīng)用實例
4.5 測定同一晶面（θkα—θkβ）角差（δ）的定向法
4.5.1 原理和方法
4.5.2 測量精度分析
4.5.3 應(yīng)用實例
4.6 測定晶棒端面面指數(shù)的定向方法
4.7 幾種定向方法的配合應(yīng)用
4.8 X射線定向儀的快速定向法應(yīng)用于衍射儀
4.8.1 棒狀晶體在衍射儀上的定向方法
4.8.2 2θ及θ角調(diào)節(jié)定向法
4.8.3 2θ及θ固定，調(diào)節(jié)樣品方位的定向法
4.9 部分晶體粉末衍射譜線卡
參考文獻(xiàn)
第五章 晶體檢測的其他幾種方法
5.1 單晶與多晶的快速鑒別
5.2 棒狀晶體軸向差的快速測定
5.2.1 測定方法
5.2.2 誤差分析
5.2.3 應(yīng)用實例
5.3 晶體晶胞常數(shù)及其變化的測定
5.3.1 原理及計算方法
5.3.2 測量誤差分析及其校正
5.3.3 應(yīng)用實例
5.4 晶體連生體的簡易檢測法
5.4.1 檢測方法
5.4.2 應(yīng)用實例
5.5 應(yīng)用X射線定向儀快速檢測金屬單晶絲的方法
5.5.1 儀器的調(diào)整及樣品放置
5.5.2 檢測內(nèi)容及方法
5.5.3 應(yīng)用實例
5.6 金屬多晶材料擇優(yōu)取向的快速測定
5.6.1 多晶、多晶擇優(yōu)取向及單晶金屬材料的區(qū)別
5.6.2 方法與實例
5.7 附表
附表1：立方系晶體晶面夾角
附表2：230種空間群及其反射條件
附表3：d值與（θkα—θkβ）角差關(guān)系表
參考文獻(xiàn)
第六章 水晶的切割定向
6.1 水晶的結(jié)晶與形態(tài)學(xué)
6.2 水晶的對稱和坐標(biāo)系
6.3 水晶晶面單形代號與布喇維面指數(shù)關(guān)系
6.4 水晶器件的各種切型與符號
6.5 晶片在直角坐標(biāo)系中的方位
6.6 水晶的X射線定向
6.7 水晶的常見晶面與柱面及菱面的夾角
參考文獻(xiàn)
第七章 YVO4晶體
7.1 YVO4晶體的結(jié)構(gòu)與形態(tài)
7.2 YVO4的直角坐標(biāo)與定向切割
7.2.1 YVO4的直角坐標(biāo)
7.2.2 YVO4的定向切割
7.3 YVO4晶面夾角與極圖
7.3.1 晶面夾角計算
7.3.2 極圖的繪制
7.4 YVO4的雙品缺陷和晶面的完整性
7.4.1 雙晶
7.4.2 幾種晶體的回擺曲線