輻射探測與測量

     目錄
    第一篇 緒論
   第一章 輻射源
    1.1單位和定義
    1.2快電子源
    1.3重帶電粒子源
    1.4電磁輻射源
    1.5中子源
   第二章 輻射與物質的相互作用
    2.1重帶電粒子與物質的相互作用
    2.2快電子與物質的相互作用
    2.3γ射線與物質的相互作用
    2.4中子與物質的相互作用
    2.5輻射照射量和劑量
   第三章 輻射探測器的一般特性
    3.1探測器的簡化模型
    3.2電流工作方式與脈沖工作方式
    3.3脈沖幅度譜
    3.4計數(shù)曲線和坪
    3.5能量分辨率
    3.6探測效率
    3.7死時間
   第四章 計數(shù)統(tǒng)計學和誤差預測
    4.1數(shù)據(jù)的特征
    4.2統(tǒng)計模型
    4.3統(tǒng)計模型的應用
    4.4誤差傳遞
    4.5計數(shù)實驗條件的優(yōu)選
    4.6時間間隔分布
    第二篇 氣體探測器
   第五章 電離室
    5.1氣體中的電離過程
    5.2電荷的遷移與收集
    5.3電流電離室的設計和運用
    5.4用電離室測量輻射劑量
    5.5直流電離室的應用
    5.6脈沖工作方式
   第六章 正比計數(shù)管
    6.1氣體倍增
    6.2正比計數(shù)管的設計特征
    6.3正比計數(shù)管的性能
    6.4探測效率和計數(shù)曲線
    6.5正比計數(shù)管的幾種變體設計
   第七章 蓋革－彌勒計數(shù)管
    7.1蓋革放電
    7.2填充氣體
    7.3猝滅
    7.4時間特性
    7.5蓋革計數(shù)坪
    7.6設計特征
    7.7計數(shù)效率
    7.8G－M監(jiān)測儀
    第三篇 閃爍計數(shù)器
   第八章 閃爍探測器的原理
    8.1有機閃爍體
    8.2無機閃爍體
    8.3光的收集和閃爍體的安裝
   第九章 光電倍增管
    9.1引言
    9.2光陰極
    9.3電子倍增
    9.4光電倍增管的特性
    9.5光電倍增管所要求的輔助設備
    9.6閃爍脈沖形狀分析
   第十章 用閃爍體的輻射能譜學
    10.1γ射線能譜學的一般原理
    10.2γ射線相互作用
    10.3預計的響應函數(shù)
    10.4NaI（T1）閃爍譜儀的特性
    10.5用閃爍體的電子譜儀
    10.6以閃爍現(xiàn)象為基礎的特殊探測器結構
    第四篇 半導體探測器
   第十一章 半導體二極管探測器
    11.1半導體的性質
    11.2電離輻射在半導體中的作用
    11.3作為輻射探測器的半導體
    11.4半導體探測器的各種結構
    11.5工作特性
    11.6面壘探測器與擴散結探測器的應用
   第十二章 鋰漂移鍺探測器
    12.1離子漂移探測器的制造
    12.2漂移探測器的基本性質
    12.3Ge（Li）探測器的工作特性
    12.4用Ge（Li）探測器的γ射線譜學
   第十三章 其它固體探測器
    13.1鋰漂移硅探測器
    13.2高純鍺探測器
    13.3硅、鍺以外的其它半導體材料
    13.4雪崩探測器
    13.5位置靈敏半導體探測器
    第五篇 中子探測器和能譜學
   第十四章 慢中子探測方法
    14.1與中子探測有關的核反應
    14.2以硼反應為基礎的探測器
    14.3根據(jù)其它轉換反應制成的探測器
    14.4反應堆儀表
   第十五章 快中子探測和快中子譜學
    15.1以中子慢化為基礎的計數(shù)器
    15.2以快中子誘發(fā)反應為基礎的探測器
    15.3利用快中子散射的探測器
    第六篇 探測器電子學和脈沖處理
   第十六章 脈沖的處理與成形
    16.1器件阻抗
    16.2同軸電纜
    16.3脈沖成形
   第十七章 線性脈沖和邏輯脈沖功能
    17.1線性脈沖和邏輯脈沖
    17.2儀器標準
    17.3脈沖處理單元一覽
    17.4通用部件
    17.5脈沖計數(shù)系統(tǒng)
    17.6脈沖幅度分析系統(tǒng)
    17.7脈沖定時系統(tǒng)
    17.8脈沖波形甄別
   第十八章 多道脈沖分析器
    18.1單道測量法
    18.2多道分析器的一般特性
    18.3多道分析器
    18.4能譜的穩(wěn)定
    18.5用計算機作能譜分析
    第七篇 其它輻射探測器及應用
   第十九章 其它類型的探測器
    19.1切倫科夫探測器
    19.2液體電離室和正比數(shù)管
    19.3照相乳膠
    19.4熱釋光劑量計
    19.5徑跡蝕刻探測器
    19.6活化箔探測中子
   第二十章 本底和探測器屏蔽
    20.1本底來源
    20.2γ射線譜中的本底
    20.3其它探測器的本底
    20.4屏蔽材料
    20.5降低本底的現(xiàn)行方法
   附錄 輻射效應和照射極限
    1.輻射效應
    2。劑量的定量化
    3。照射類型