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幾何量公差與檢測

    

	
幾何量公差與檢測
	
	

	

	

	
定　價：￥5.20

	

			
					

						作　者：
						甘永立主編
					

					

						出版社：
						上海科學(xué)技術(shù)出版社
					

					

						叢編項：
						
					

					

						標(biāo)　簽：
						機(jī)械元件 互換性 測量
					

				
	
	

    
	

	

			
					

						ISBN：
						9787532330881
						出版時間：
						1993-05-01	
                        包裝：
											
					
					
					
					
						開本：
						26cm
						頁數(shù)：
						272頁
						字?jǐn)?shù)：
						 
					
					
				

        

   

    
    
    
	
	
	
	
內(nèi)容簡介

	

	
　　本書分幾何量測量基礎(chǔ)、孔軸公差配合與檢測、形狀和位置公差與檢測等12章。
	
	
	
   
	
	
	
作者簡介

	

	
暫缺《幾何量公差與檢測》作者簡介
	
	
	
	
	
	
圖書目錄

	

	
暫缺《幾何量公差與檢測》目錄
	
	

	

    

        



    
	
	

   

   

   

    
   

   
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