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公差配合及其檢測(cè)基礎(chǔ)

公差配合及其檢測(cè)基礎(chǔ)

定　價(jià)：￥3.50

作　者： 吳學(xué)禮主編
出版社： 同濟(jì)大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 配合 公差
ISBN： 9787560800509 出版時(shí)間： 1988-04-01 包裝：
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 228頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)論述了有關(guān)的公差標(biāo)準(zhǔn)及檢測(cè)，內(nèi)容包括：尺寸公差，測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)，形位公差等。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《公差配合及其檢測(cè)基礎(chǔ)》作者簡(jiǎn)介

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