現(xiàn)代干涉測量技術(shù)

　　由于科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，干涉測量技術(shù)已經(jīng)得到相當(dāng)廣泛的應(yīng)用。一方面因為微電子、微機(jī)械、微光學(xué)和現(xiàn)代工業(yè)提出了愈來愈高的精度和更大的量程，其它方法難以勝任；另一方面因為當(dāng)代干涉測量技術(shù)本身具有靈敏度高、量程大、可以適應(yīng)惡劣環(huán)境、光波和米定義聯(lián)系而容易溯源等特點(diǎn)，因而在現(xiàn)代工業(yè)中應(yīng)用非常廣泛。目前已經(jīng)有幾個著名廠家的成熟的干涉儀產(chǎn)品，覆蓋了相當(dāng)大的應(yīng)用范圍。但是干涉儀畢竟不是一個簡單的工具，沒有一定的理論基礎(chǔ)難以正確使用，何況還有許多新的應(yīng)用領(lǐng)域有待研究，需要更加深入的理論知識。全國統(tǒng)編教材不可能有很大的篇幅介紹干涉測量技術(shù)。本書可作為光學(xué)儀器、計量測試、精密儀器等專業(yè)的高年級學(xué)生及研究生的教學(xué)參考書，同時也可供從事計量測試、儀器設(shè)計的工程技術(shù)人員參考。參加本書各章編寫的專家和教授都長期在該領(lǐng)域從事科研和教學(xué)工作，許多章節(jié)成稿后又請了有關(guān)專家審閱。本書是中國計量科學(xué)院前院長趙克功博士提出，并取得德國政府和中國國家教育委員會資助的三本教材之一。參編人員曾分兩批赴德參觀訪問和收集資料。本書第二章由張增耀副教授編寫，第三章由朱若谷副教授編寫，第四章由方仲彥教授編寫，第五章一至四節(jié)由郭彥珍教授編寫，第六章由陳耀煌研究員編寫，第七章由徐毓嫻副教授編寫，第九章由徐毅研究員編寫，第十章由王東生教授編寫，第十一章由德國聯(lián)邦物理研究院的P．Becker博士和J．Stuempel博士編寫、徐毓嫻副教授翻譯、郭彥珍教授校對，第十二章由郭繼華副教授編寫，第一章、第八章、第五章的五至六節(jié)、第九章的第二節(jié)由殷純永教授編寫，全書由殷純永教授統(tǒng)稿。最后裘惠孚教授審閱了全書并提出修改意見。因為時間緊迫，本書采用的符號要求每位作者獨(dú)立決定，保證每章內(nèi)部的一致性。這樣，不影響讀者的理解。

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