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試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化

試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化

定　價(jià)：￥69.00

作　者： （美）[吳建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [邁克爾·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；張潤(rùn)楚等譯
出版社： 中國(guó)統(tǒng)計(jì)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺

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ISBN： 9787503740237 出版時(shí)間： 2003-01-01 包裝：
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 577頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書從理論和應(yīng)用兩個(gè)角度深刻地闡述了試驗(yàn)設(shè)計(jì)的基本原理和思想，全面系統(tǒng)介紹了試驗(yàn)設(shè)計(jì)的一般理論和方法，包括各種設(shè)計(jì)的構(gòu)造和分析、建模理論和數(shù)據(jù)分析方法。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析及參數(shù)優(yōu)化》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

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