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電路測(cè)試技術(shù)與儀器

電路測(cè)試技術(shù)與儀器

定　價(jià)：￥3.65

作　者： 朱錫仁編著
出版社： 清華大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 電路參數(shù)測(cè)量
ISBN： 9787302004356 出版時(shí)間： 1989-01-01 包裝：
開(kāi)本： 26cm 頁(yè)數(shù)： 282頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書第一篇講述有關(guān)電子電路、電子產(chǎn)品的性能、參數(shù)的實(shí)用測(cè)試技術(shù);第二篇介紹21個(gè)類別 的國(guó)產(chǎn)電子測(cè) 量?jī)x器的基本原理、使用方法、實(shí)際測(cè)試經(jīng)驗(yàn)與技巧。

作者簡(jiǎn)介

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