計算機輔助測試技術(shù)導論

第一部分 用現(xiàn)有儀器構(gòu)成自動測試系統(tǒng)
 第1章 自動測試系統(tǒng)概述
  1.1 自動測試系統(tǒng)的組成
  1.2 自動測試系統(tǒng)的分類
  1.3 現(xiàn)代自動測試系統(tǒng)的特點
 第2章 通用接口總線概述
  2.1 概述
  2.2 接口基本性能及儀器功能
  2.3 總線結(jié)構(gòu)
  2.4 接口基本特性
 第3章 通用接口總線協(xié)議編碼
  3.1 信息分類
  3.2 接口信息及編碼
  3.3 設備信息及編碼
 第4章 接口功能
  4.1 清除功能（DC）
  4.2 設備觸發(fā)功能（DT）
  4.3 聽功能（L）
  4.4 講功能（T）
  4.5 源功能（SH）
  4.6 受功能（AH）
  4.7 服務請求功能（SR）
  4.8 遠程/本地功能（RL）
  4.9 控者功能（C）
 第5章 USB及虛擬儀器
  5.1 USB總線協(xié)議簡介
  5.2 基本結(jié)構(gòu)簡介
  5.3 USB協(xié)議總覽
  5.4 連接特性
  5.5 VXI概念
第二部分 模擬集成電路測試系統(tǒng)
 第6章 CAT概述及TM7簡介
  6.1 CAT概述
  6.2 TM7簡介
 第7章 測試語言簡介
  7.1 BASIC語法定義
  7.2 TBASIC命令
  7.3 TBASIC的語句
  7.4 測試用的新增函數(shù)
  7.5 其他語句組
  7.6 數(shù)字測試擴展語句
  7.7 如何使用TBASIC7
  7.8 測試語言的深層次討論
 第8章 TM7的硬件
  8.1 TM7的硬件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
  8.2 硬件的層次結(jié)構(gòu)（三層結(jié)構(gòu)）
  8.3 TM7的接口控制電路的幾個問題
  8.4 TM7的數(shù)字電路
  8.5 模擬電路
 第9章 基本種類IC的測試
  9.1 運算放大器的測試
  9.2 集成三端穩(wěn)壓器的測試
  9.3 DAC的測試
  9.4 ADC的測試及適配器的工作原理
 第10章 測試儀系統(tǒng)軟件的開發(fā)及儀器自檢和校準
  10.1 系統(tǒng)軟件的結(jié)構(gòu)
  10.2 自檢原理及算法
  10.3 校準
  10.4 TM7的校準和模擬量自檢方法
  附錄A TBASIC命令表
  附錄B 函數(shù)表
  附錄C 測試語句表
  附錄D TBASIC錯誤信息表
英文縮略詞英漢對照表
參考文獻