材料現代分析測試方法

緒論
第一章 X射線衍射分析原理
1.1 概述
1.2 X射線物理學基礎
1.3 X射線衍晶體學基礎
1.4 X射線衍射方向
1.5 X射線衍射強度
習題與思考題
第二章 X射線多晶衍射方法及應用
2.1 多晶衍射方法
2.2 X射線物相分析
2.3 點陣常數的精確測定
2.4 宏觀應力測定
2.5 晶粒尺寸和微觀應力的測定
2.6 非晶態(tài)物質及其晶過程的X射線衍射分析
習題與思考題
第三章 透射電子顯微分析
3.1 概述
3.2 電子與固體的相互作用
3.3 透射電鏡的構造與工作原理
3.4 電子衍射譜的特征與分析
3.5 TEM顯微圖像襯度分析
3.6 試樣制備
習題與思考題
第四章 掃描電子顯微鏡與電子探針
4.1 掃描電子顯微鏡
4.2 電子圖像分析
4.3 電子探針的工作原理與結構
4.4 電子探針儀的分析方法及應用
習題與思考題
第五章 光電子能譜與俄歇電子能譜
5.1 光電子能譜的基本原理
5.2 光電子能譜實驗技術
5.3 光電子能譜的應用
5.4 俄歇電子能譜分析
習題與思考題
第六章 光譜分析
6.1 光譜分析法及其分類
6.2 原子、分子結構與光譜
6.3 原子發(fā)射光譜法
6.4 原子吸收光譜法
6.5 分子振動光譜法
習題與思考題
第七章 熱分析技術
7.1 概述
7.2 差熱分析
7.3 差示掃描量熱法
7.4 熱重分析
7.5 熱分析儀器的發(fā)展趨勢
習題與思考題
第八章 材料動態(tài)力學實驗技術
8.1 概述
8.2 慣性效應與應力波的概念
8.3 中低速沖擊載荷實驗裝置
8.4 高速和超高速沖擊載荷實驗裝置
8.5 動態(tài)參量測量技術
習題與思考題
第九章 其他分析方法簡介
9.1 掃描隧道顯微鏡（STM）
9.2 原子力顯微鏡（AFM）
9.3 離子探針（SIM）
9.4 原子探針-場離子顯微分析
9.5 穆斯堡爾譜法
9.6 核磁共振（NMR）及其應用
習題與思考題
附錄