第1章 檢測半導體二極管
1.1 判定二級管正、負極的方法
1.2 檢測二級管質量好壞的方法
1.3 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之一
1.4 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之二
1.5 測量二極管反向擊穿電壓的方法
1.6 測繪二極管伏安特性的方法
1.7 檢測高速開關二極管的方法
第2章 檢測特種半導體二極管
2.1 檢測快恢復、超快恢復二極管的方法
2.2 檢測消特基二極管的方法
2.3 檢測隧道二極管的方法
2.4 檢測變容二極管的方法
第3章 檢測穩(wěn)壓管
3.1 穩(wěn)壓管的產品分類
3.2 區(qū)分穩(wěn)壓管與二極管的方法
3.3 檢測穩(wěn)壓管質量好壞的方法
3.4 測量穩(wěn)壓管電壓的方法
3.5 測量穩(wěn)壓管伏安特性的方法
第4章 檢測恒流源
4.1 恒流源的產品分類
4.2 檢測恒流二極管的方法
4.3 檢測恒流三極管的方法
4.4 檢測可調式精密集成恒流源的方法
4.5 測繪穩(wěn)流管伏安特性的方法
第5章 檢測整流器件
5.1 檢測整流二極管的方法
5.2 檢測整流橋的方法
5.3 檢測高壓硅堆的方法
第6章 檢測雙極型晶體管
6.1 判定晶體管電極的方法
6.2 準確判定晶體管C、E電極的方法
6.3 區(qū)分硅晶體管與鍺晶體管的方法
6.4 區(qū)分高頻管與低頻管的方法
6.5 測量晶體管穿插透電流的方法
6.6 測量晶體管反向截止電流的方法
6.7 測量晶體管擊穿電壓的方法
6.8 估測晶體管放大能力的方法
6.9 估測晶體管hFE的方法
6.1 準確測量晶體管hFE的簡便方法
6.11 測量在線晶體管hFE的一般方法
6.12 測量晶體管的hFE一般方法
6.13 利用LI刻度線測量晶體管hFE的方法
6.14 檢測片狀晶體管的方法
6.15 判定晶體管工作狀態(tài)的方法
6.16 測繪晶體管正向AGC特性的方法
6.17 晶體管放大器故障速查法
6.18 估測功率晶體管放大能力的方法
6.19 估測功率晶體管hFE的方法
6.2 檢測功率開關管的方法
6.21 檢測達林頓管的方法
6.22 檢測微型高增益達林頓管的方法
6.23 檢測巨型晶體管的方法
6.24 檢測差分對管的方法
6.25 檢測互補對管的方法
第7章 檢測場效應管
7.1 判定結型場效應管電極的方法
7.2 檢查結型場效應管質量好壞的方法
7.3 估測結型場效應管放大能力的方法
7.4 測量結型場效應管漏-源通態(tài)電陰及零偏壓跨導的方法
7.5 測量結型場效應管柵-源截止電壓的方法
7.6 測量結型場效應管零偏壓漏極電流及飽和區(qū)跨導的方法
7.7 測量結型場效應管擊穿插電壓的方法
7.8 檢測MOS場效應管的方法
7.9 檢測VMOS場效應管的方法
7.1 檢測IGBT的方法
第8章 檢測單結晶體管
8.1 判定單結晶體管電極的方法
8.2 檢查單結晶體管觸發(fā)能力的方法
8.3 估測單結晶體管分壓比及峰值電壓的方法
8.4 測量單結晶體管分壓比的方法
8.5 測量程控制單結晶體管的方法
第9章 檢測晶閘管
9.1 判定普通晶閘管和快速晶閘管電極的方法
9.2 檢查晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.3 測量晶閘管斷態(tài)峰值電壓的方法
9.4 判定雙向晶閘管的電極并檢查觸發(fā)能力的方法
9.5 檢查大功率雙向晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.6 檢測雙向晶閘管質量好壞的方法
9.7 檢測雙向二極管的方法
9.8 檢測硅單向開關的方法
9.9 檢測硅雙向開關的方法
9.1 檢測可關斷晶閘管的方法
9.11 檢測硅控制開關的方法
9.12 檢測逆導晶閘管的方法
第1章 檢測光電器件
1.1 檢測單色發(fā)光二極管的方法
1.2 區(qū)分高亮度、低亮度發(fā)光二極管的方法
1.3 檢測微型發(fā)光二極管的方法
1.4 檢測藍色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.5 檢測白色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.6 檢測雙色發(fā)光二極管的方法
1.7 檢測三變色發(fā)光二極管的方法
1.8 測量發(fā)光二極管正向電壓的方法
1.9 同時測量發(fā)光二極管正向電流和正向電壓的方法
1.1 測繪發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.11 測繪變色發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.12 檢測電壓控制型發(fā)光二極管的方法
1.13 檢測閃爍發(fā)光二極管的方法
1.14 檢測負阻型發(fā)光二接管的方法
1.15 檢測光電管的方法
1.16 檢測光電二極管的方法
1.17 檢測光敏三極管的方法
1.18 檢測紅外發(fā)射、接收對管的方法
1.19 檢測光電開關的方法
1.2 檢測光敏電阻的方法
第11章 檢測光耦合器
11.1 檢測光耦合器的方法
11.2 測量光耦合器主要參數的方法
11.3 估測光耦合器電流傳輸能力的方法
11.4 測量光耦合器電流傳輸比的方法
11.5 區(qū)分通用型與達林頓型光耦合器的方法
11.6 檢測線性光耦合器的方法
第12章 檢測顯示器件
12.1 常顯示器件的產品分類
12.2 檢測輝光數碼管的方法
12.3 檢測熒光碼管的方法
12.4 檢測LED數碼管的方法
12.5 檢測大型LED數碼管的方法
12.6 區(qū)分高亮度、普通亮度LED數碼管的方法
12.7 檢測LED符號管的方法
12.8 檢測LED電平顯示器的方法
12.9 檢測LED條圖顯示器的方法
12.1 檢測雙位及三位LED數碼管的方法
12.11 檢測雙位LED掃描顯示器的方法
12.12 檢測單色LED點陣顯示器的方法
12.13 檢測彩色LED點陣顯示器的方法
12.14 檢測微型化多位LED點陣顯示器的方法
12.15 檢測LED面發(fā)光器件的方法
12.16 檢測CMOS-LED組件的方法
12.17 檢測多位CMOS-LED組件的方法
12.18 檢測靜態(tài)驅動式LCD的方法
12.19 檢測掃描驅動式LCD的方法
12.2 檢測LCD點陣顯示器的方法
12.21 檢測CRT像元管的方法
12.22 檢測磁翻板顯示器的方法
鄂公網安備 42010302001612號 