數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設計

　　《數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設計（附光盤）》論述集成電路與嵌入式數(shù)字系統(tǒng)的測試技術，提出許多重要且關鍵的解決方案。針對目前在測試中遇到的實際問題，從技術和產(chǎn)品的投資成本上論述嵌入內(nèi)核和SoC的測試問題?！稊?shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設計（附光盤）》適合作為高等院校相關專業(yè)本科生、研究生的教材或參考書，也可供相關專業(yè)技術人員參考?！稊?shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)的測試設計（附光盤）》包括五章，按目錄的順序排列是：測試基礎、自動測試圖形生成（ATPG）、掃描、存儲器測試和內(nèi)核。每章概要如下：第1章包括有關測試的術語、定義和基本信息，介紹了什么是測試和可測性設計，怎么做測試，為什么做測試，需要測試的對象是什么，怎么度量與實施測試，使用什么設備測試，工程和成本權衡的內(nèi)因是什么。這是非常基礎的一章，可以讓初學者或初級測試與可測性設計專業(yè)人員快速了解測試的需求、作用和語言。第2章介紹繁重的向量生成任務的自動化過程，以及如何利用自動測試圖形生成（ATPG）方法減小量產(chǎn)時間。該章描述了AC（動態(tài)）和DC（靜態(tài)）故障模型向量生成分析與技術，包括了在硬件設計中必須遵守某些規(guī)則的原因，如何降低向量集合的大小，向量集合生成的時間等內(nèi)容。本章同時也討論了ATPG過程中的度量和權衡，介紹了不同ATPG工具的評估和基準程序比較，幫助讀者在應用中選擇適用的方法和工具。第3章講述掃描測試方法，開始先介紹了掃描設計和操作的基本知識，討論了采用一個掃描設計時需要考慮的設計要點與權衡。同時也包括了在設計中的掃描安裝技術，以及一些普遍問題的解決方法，例如可靠移位、無競爭向量、移位定時、時鐘偏差。最后，介紹了一些減少測試時間的技術，如按照額定功能頻率對掃描結構進行移位（全速掃描），以及從設計的定時分析中抽取關鍵路徑信息，然后在掃描鏈中使用額定頻率采樣（AC掃描），從而通過掃描來達到AC測試目標。第4章講述存儲器測試、掃描測試結構中的存儲器應對方法和存儲器內(nèi)建自測試（MBIST）。該章從存儲器測試基礎講起，擴展到與掃描共存的測試結構，最后描述內(nèi)建自測試結構與集成。內(nèi)建自測試的存儲器內(nèi)核交付要包含很多信息，包括如何處理大量存儲器內(nèi)核集成，如何減少路由的問題，功耗問題，特征提取，數(shù)據(jù)調(diào)試，數(shù)據(jù)保存問題。第5章介紹使用可測試與可訪問的嵌入式內(nèi)核進行可測性設計。該章先介紹了被稱作“嵌入式IP（智能模塊）”，嵌入式內(nèi)核或基于內(nèi)核的設計風格的基本術語、定義、內(nèi)容、權衡?；谇度胧絻?nèi)核的設計流程包括兩個方面，設計可測試可重用的內(nèi)核，使用嵌入式可重用內(nèi)核設計芯片。學習該章需要深入理解第1、3、4章的內(nèi)容。

　　Alfred L·Crouch畢業(yè)于肯塔基大學，獲電氣工程學碩士學位（MSEE）。他曾先后供職于德州儀器、數(shù)字設備公司以及摩托羅拉公司，長期從事測試設計、測試自動化以及計算機輔助測試的工作。他在若干0EEE出版物、E-Timers以及專業(yè)雜志發(fā)表過大量文章，是IEEE會員。他擁有9個美國專利，主要是測試相關的發(fā)明專利，如邏輯內(nèi)建自測試、存儲器內(nèi)建自測試、掃描結構、掃描優(yōu)化，低功耗測試以及全速掃描。聯(lián)系方式：AI一Crouch@prodigy.net。