SOC\ASIC設(shè)計(jì)驗(yàn)證和測(cè)試方法學(xué)

第1章 緒論
1.1集成電路工業(yè)發(fā)展里程碑
1.2半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線(xiàn)圖
1.2.1國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)路線(xiàn)圖
1.2.2路線(xiàn)圖技術(shù)特性
1.3集成電路設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)
1.3.1微處理器
1.3.2模擬混合信號(hào)(AMS)設(shè)計(jì)
1.3.3嵌入存儲(chǔ)器
1.3.4系統(tǒng)芯片(SOC)
1.4 soc設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)
1.4.1 SOC的規(guī)范形式
1.4.2 SOC的挑戰(zhàn)
1.4.3設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)
1.4.4測(cè)試挑戰(zhàn)
參考文獻(xiàn)
第2章 SOC設(shè)計(jì)
2.1 SOC模型
2.1.1建模分類(lèi)
2.1.2通用模型
2.1.3系統(tǒng)模型
2.1.4體系結(jié)構(gòu)模型
2.1.5硬件模型
2.1.6實(shí)現(xiàn)級(jí)性能模型
2.1.7軟件模型
2.2 SOC設(shè)計(jì)分層
2.3 SOC系統(tǒng)設(shè)計(jì)
2.3.1系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程
2.3.2系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一些重要概念
2.4 SOC硬件設(shè)計(jì)
2.4.1設(shè)計(jì)質(zhì)量的優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)
2.4.2邏輯、電路和物理設(shè)計(jì)
2.4.3驗(yàn)證和測(cè)試
2.5 SOC設(shè)計(jì)重用技術(shù)
2.5.1設(shè)計(jì)重用的概念
2.5.2虛擬插座接口(VSI)
2.6 S0c設(shè)計(jì)方法學(xué)
2.6.1基于內(nèi)核的設(shè)計(jì)方法
2.6.2基于平臺(tái)的設(shè)計(jì)方法
參考文獻(xiàn)
第3章 SOC／ASIC驗(yàn)證
3.1驗(yàn)證技術(shù)概述
3.1.1功能驗(yàn)證
3.1.2等價(jià)驗(yàn)證
3.1.3靜態(tài)分析驗(yàn)證
3.1.4物理驗(yàn)證
3.2模擬
3.2.1模擬器
3.2.2功能覆蓋度量
3.2.3覆蓋分析技術(shù)
3.2.4驗(yàn)證測(cè)試程序
3.3驗(yàn)證測(cè)試程序自動(dòng)化
3.3.1動(dòng)態(tài)偏置偽隨機(jī)測(cè)試程序生成
3.3.2基于模型的偽隨機(jī)測(cè)試程序生成
3.3.3基于約束滿(mǎn)足問(wèn)題求解的偽隨機(jī)測(cè)試程序生成
3.3.4基于代碼覆蓋的測(cè)試程序生成
3.4 Lint檢驗(yàn)
3.5靜態(tài)時(shí)序分析
3.5.1靜態(tài)時(shí)序分析方法
3.5.2深亞微米集成電路的時(shí)序分析方法
3.6形式等價(jià)檢驗(yàn)
3.6.1組合形式等價(jià)檢驗(yàn)
3.6.2基于BDD的等價(jià)檢驗(yàn)
3.7形式模型檢驗(yàn)
3.7.1 CTL模型檢驗(yàn)
3.7.2符號(hào)模型檢驗(yàn)
3.8定理證明驗(yàn)證
3.9斷言驗(yàn)證
3.9.1硬件驗(yàn)證語(yǔ)言
3.9.2斷言——特性說(shuō)明
3.9.3基于斷言的驗(yàn)證方法
3.10集成電路設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法學(xué)
3.10.1設(shè)計(jì)驗(yàn)證計(jì)劃
3.10.2 SOC驗(yàn)證方法學(xué)
參考文獻(xiàn)
第4章 SOC／ASIC測(cè)試
4.1測(cè)試技術(shù)概述
4.1.1測(cè)試的基本技術(shù)
4.1.2測(cè)試的定義
4.2故障模擬
4.2.1缺陷、失效和故障
4.2.2故障模擬器
4.2.3故障模擬結(jié)果分析
4.3自動(dòng)測(cè)試向量生成
4.3.1組合電路測(cè)試生成方法
4.3.2時(shí)序電路測(cè)試生成方法
4.3.3其他測(cè)試生成方法
4.3.4測(cè)試的評(píng)價(jià)
4.4電流測(cè)試
4.4.1基本概念
4.4.2測(cè)試碼產(chǎn)生
4.4.3深亞微米工藝的影響
4.5存儲(chǔ)器測(cè)試
4.5.1存儲(chǔ)器模型
4.5.2存儲(chǔ)器故障模型
4.5.3存儲(chǔ)器功能測(cè)試
4.6可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)
4.6.1可測(cè)試性設(shè)計(jì)目標(biāo)
4.6.2可測(cè)試性分析
4.6.3特定的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法
4.6.4系統(tǒng)化的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法
4.7掃描設(shè)計(jì)
4.7.1掃描電路設(shè)計(jì)
4.7.2掃描測(cè)試
4.7.3掃描鏈結(jié)構(gòu)
4.8邊界掃描設(shè)計(jì)
4.8.1邊界掃描結(jié)構(gòu)
4.8.2測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP)控制器
4.8.3混合信號(hào)測(cè)試總線(xiàn)
4.9內(nèi)建自測(cè)試(BIST)
4.9.1邏輯電路BIST(LBIST)
4.9.2測(cè)試向量生成
4.9.3測(cè)試響應(yīng)壓縮
4.10存儲(chǔ)器的可測(cè)試性設(shè)計(jì)
4.11 SOC的可測(cè)試性設(shè)計(jì)
4.11.1內(nèi)核的測(cè)試要求
4.11.2 SOC測(cè)試結(jié)構(gòu)
4.11.3 SOC測(cè)試策略
4.12可調(diào)試性設(shè)計(jì)
4.12.1調(diào)試概念
4.12.2硅片調(diào)試
4.12.3可調(diào)試性設(shè)計(jì)的功能
4.13可制造性設(shè)計(jì)和可維護(hù)性設(shè)計(jì)
4.14集成電路的測(cè)試方法學(xué)
4.14.1集成電路的測(cè)試設(shè)計(jì)
4.14.2 SOC測(cè)試方法學(xué)
參考文獻(xiàn)
第5章 集成電路設(shè)計(jì)語(yǔ)言
5.1設(shè)計(jì)語(yǔ)言
5.1.1軟件編程語(yǔ)言C／C++
5.1.2硬件描述語(yǔ)言Verilog1995
5.1.3硬件描述語(yǔ)言VHDL一1993
5.1.4 Verilog-2001
5.1.5 Verilog—AMS
5.2驗(yàn)證語(yǔ)言
5.2.1硬件驗(yàn)證語(yǔ)言O(shè)penVera
5.2.2斷言驗(yàn)證語(yǔ)言0VA
5.3統(tǒng)一的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證語(yǔ)言
5.3.1特性說(shuō)明語(yǔ)言PSL
5.3.2系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)語(yǔ)言SystemC
5.3.3硬件描述和硬件驗(yàn)證語(yǔ)言SystemVeri。log
5.3.4 Verilog一2005
5.3.5 VHDL一200x
5.3.6新穎的SOC設(shè)計(jì)語(yǔ)言
5.4測(cè)試語(yǔ)言
5.4.1標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言STIL
5.4.2內(nèi)核測(cè)試語(yǔ)言CTL
參考文獻(xiàn)
第6章 Synopsys EDA系統(tǒng)
6.1概述
6.2 Galaxy設(shè)計(jì)平臺(tái)
6.2.1分層設(shè)計(jì)方法學(xué)
6.2.2 RTIJ綜合
6.2.3靜態(tài)時(shí)序分析
6.2.4信號(hào)完整性
6.2.5電源綜合
6.2.6測(cè)試設(shè)計(jì)
6.2.7物理設(shè)計(jì)
6.2.8 Sign.off確認(rèn)
6.2.9設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)
6.3 Discoveiy驗(yàn)證平臺(tái)
6.3.1系統(tǒng)級(jí)分析和設(shè)計(jì)
6.3.2基準(zhǔn)驗(yàn)證方法學(xué)
6.3.3 RTL驗(yàn)證
6.3.4斷言驗(yàn)證
6.3.5測(cè)試程序自動(dòng)化
6.3.6 RTL代碼檢查
6.3.7形式特性檢驗(yàn)
6.3.8形式等價(jià)檢驗(yàn)¨
6.3.9覆蓋分析
6.3.10驗(yàn)證IP內(nèi)核
6.3.11 AMS設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
6.4設(shè)計(jì)庫(kù)
6.5可制造性設(shè)計(jì)
參考文獻(xiàn)
第7章 SOC設(shè)計(jì)平臺(tái)實(shí)例——Philips Nexperia-DVP
7.1 Nexperia數(shù)字視頻平臺(tái)
7.2數(shù)字視頻SOc設(shè)計(jì)
7.2.1 soc參考體系結(jié)構(gòu)
7.2.2 SOC實(shí)現(xiàn)
7.3數(shù)字視頻軟件
7.3.1平臺(tái)軟件
7.3.2軟件參考體系結(jié)構(gòu)
7.4數(shù)字視頻系統(tǒng)集成
7.4.1性能優(yōu)化
7.4.2調(diào)度技術(shù)
參考文獻(xiàn)
附錄 英文縮寫(xiě)詞