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數(shù)字IC設(shè)計(jì):方法技巧與實(shí)踐

數(shù)字IC設(shè)計(jì):方法技巧與實(shí)踐

定 價(jià):¥36.00

作 者: 唐杉,徐強(qiáng),王莉薇
出版社: 機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 化學(xué)工業(yè)

ISBN: 9787111178798 出版時(shí)間: 2006-01-01 包裝: 平裝
開(kāi)本: 16開(kāi) 頁(yè)數(shù): 353 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書內(nèi)容主要是數(shù)字芯片前端設(shè)計(jì),不涉及模擬或是混合電路的芯片設(shè)計(jì),而前端是指在進(jìn)行物理設(shè)計(jì)(布局布線)之前的內(nèi)容。本書首先介紹了和蒼片設(shè)計(jì)相關(guān)的一些背景知識(shí)。然后,使用一章的篇幅介紹芯片設(shè)計(jì)的流程和各個(gè)階段使用的工具。之后的章節(jié),本書就根據(jù)芯片設(shè)計(jì)的流程逐步介紹前端設(shè)計(jì)需要的知識(shí)。其中第3章為構(gòu)架設(shè)計(jì),比較詳盡地介紹了構(gòu)架設(shè)計(jì)的任務(wù),一些應(yīng)當(dāng)考慮的問(wèn)題和構(gòu)架設(shè)計(jì)的方法。第4章是RTL設(shè)計(jì)與仿真。首先介紹的是一些RTL的設(shè)計(jì)規(guī)則;之后,討論了如何在RIL設(shè)計(jì)中考慮綜合和后端設(shè)計(jì)的問(wèn)題;然后,給出了一些最常見(jiàn)的設(shè)計(jì)實(shí)例和代碼;最后,介紹了仿真的相關(guān)知識(shí)。第5章為邏輯綜合和相關(guān)技術(shù)。主要介紹了綜合工具的功能和基本使用方法,包括基本的綜合和優(yōu)化的方法,以及和綜合關(guān)系密切的靜態(tài)時(shí)間分析和一致性檢查技術(shù)。最后一章介紹了芯片設(shè)計(jì)的項(xiàng)目管理。本書適于從事通信技術(shù),電子、微電子技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的工程師、研究人員以及有關(guān)專業(yè)師生參考。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《數(shù)字IC設(shè)計(jì):方法技巧與實(shí)踐》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

前言
第1章:背景知識(shí)
集成電路工藝、分類和設(shè)計(jì)方法的演進(jìn)
集成電路工藝介紹
集成電路的分類
集成電路設(shè)計(jì)方法的演進(jìn)
目前面臨的問(wèn)題和發(fā)展方向
物理綜合技術(shù)
設(shè)計(jì)重用和SoC設(shè)計(jì)
片上網(wǎng)絡(luò)
FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)
提高設(shè)計(jì)的抽象層次
本書的內(nèi)容和范圍
參考文獻(xiàn)

第2章:芯片設(shè)計(jì)流程和工具
需求分析和需求管理
算法(Algorithm)和構(gòu)架設(shè)計(jì)
模塊設(shè)計(jì)和RTL實(shí)現(xiàn)
綜合(Syntlaesis)
時(shí)序驗(yàn)證
原型驗(yàn)證
后端設(shè)計(jì)
生產(chǎn)測(cè)試(Mantlfacturing Test)
工具的作用
參考文獻(xiàn)

第3章:構(gòu)架(Architeeture)設(shè)計(jì)
芯片構(gòu)架選擇和設(shè)計(jì)
軟硬件劃分
功能模塊的劃分和接口定義
IP選擇和設(shè)計(jì)
模塊互連機(jī)制的選擇和設(shè)計(jì)
構(gòu)架建模和仿真
芯片設(shè)計(jì)的特殊考慮
芯片制造商和工藝的選擇
設(shè)計(jì)的層次化
時(shí)序閉合性設(shè)計(jì)
可調(diào)試性設(shè)計(jì)
可測(cè)性設(shè)計(jì)
可驗(yàn)證性設(shè)計(jì)
低功耗設(shè)計(jì)
封裝和引腳
制定構(gòu)架(或功能)規(guī)范
制定功能驗(yàn)證計(jì)劃
功能驗(yàn)證的基本概念和方法
隨機(jī)測(cè)試(]Random Test)
衡量功能驗(yàn)證的質(zhì)量
參考文獻(xiàn)

第4章:RTL級(jí)設(shè)計(jì)和仿真概念
RTL代碼編寫的規(guī)則
通用規(guī)則
VHDL設(shè)計(jì)規(guī)則
Venlog設(shè)計(jì)規(guī)則
使用HDL檢查工具對(duì)RTL設(shè)計(jì)規(guī)則進(jìn)行檢查
RTL級(jí)設(shè)計(jì)與綜合及后端設(shè)計(jì)的關(guān)系
RTL級(jí)設(shè)計(jì)的綜合結(jié)果
在RTL編碼中考慮時(shí)延
在RTL編碼中考慮面積問(wèn)題
在RTL編碼中考慮功耗問(wèn)題
在RTL編碼中考慮可測(cè)性問(wèn)題
在RTL編碼中考慮布線問(wèn)題
根據(jù)綜合結(jié)果改進(jìn)RTL級(jí)設(shè)計(jì)
典型設(shè)計(jì)應(yīng)用
時(shí)鐘和復(fù)位
狀態(tài)機(jī)
存儲(chǔ)單元
寄存器空間和CPU接口的設(shè)計(jì)
雙向信號(hào)和內(nèi)部總線
增強(qiáng)代碼的可移植性
基本邏輯單元設(shè)計(jì)
RTL級(jí)設(shè)計(jì)的仿真驗(yàn)證
與仿真相關(guān)的概念
仿真競(jìng)爭(zhēng)(Simulation Race)
仿真中的常見(jiàn)問(wèn)題和解決
參考文獻(xiàn)

第5章:邏輯綜合和相關(guān)技術(shù)
綜合的概念和流程
邏輯綜合
等效性檢查
靜態(tài)時(shí)間分析
布局布線和驗(yàn)證
使用DC進(jìn)行綜合
預(yù)備知識(shí)
準(zhǔn)備HDL文件
確定設(shè)計(jì)庫(kù)
DC對(duì)設(shè)計(jì)的一些操作
定義設(shè)計(jì)的環(huán)境
定義設(shè)計(jì)約束
設(shè)計(jì)優(yōu)化
分析和解決設(shè)計(jì)中存在的問(wèn)題,
掃描綜合
掃描替換和掃描鏈組裝
自底向上和自頂向下的掃描插入
如何獲得最好的測(cè)試結(jié)果
邊界掃描(BoLmdary Scan)
靜態(tài)時(shí)間分析
PT基礎(chǔ)
PT基本操作
Prelayout靜態(tài)時(shí)間分析
Post-layout靜態(tài)時(shí)間分析
靜態(tài)時(shí)間分析報(bào)告
等效性檢查
基本概念
Fomality基礎(chǔ)
Fomality的一些關(guān)鍵概念
參考文獻(xiàn)

第6章:芯片設(shè)計(jì)的項(xiàng)目管理
項(xiàng)目計(jì)劃
功能、性能、成本以及設(shè)計(jì)周期的權(quán)衡
項(xiàng)目策劃的原則
項(xiàng)目策劃的流程
項(xiàng)目計(jì)劃(project plan)的內(nèi)容
挑選項(xiàng)目成員
項(xiàng)目控制與度量
項(xiàng)目跟蹤與控制
芯片設(shè)計(jì)生產(chǎn)率的度量
缺陷分析
風(fēng)險(xiǎn)管理
風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估
風(fēng)險(xiǎn)最小化
數(shù)據(jù)管理
數(shù)據(jù)管理規(guī)則
芯片設(shè)計(jì)文檔
配置管理
芯片設(shè)計(jì)的質(zhì)量保證
質(zhì)量保證的主要功能
質(zhì)量保證活動(dòng)的管理
項(xiàng)目中的評(píng)審
參考文獻(xiàn)

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