數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗

實驗一  TTL和CMOS門電路參數(shù)的測試                  
 實驗二  基本門電路邏輯功能驗證                  
 實驗三  OC門和三態(tài)門的應(yīng)用                  
 實驗四  編碼器和譯碼器                  
 實驗五  數(shù)據(jù)選擇器                  
 實驗六  組合邏輯電路的應(yīng)用                  
 實驗七  觸發(fā)器                  
 實驗八  寄存器                  
 實驗九  數(shù)值比較器                  
 實驗十  CMOS器件功能測試                  
 實驗十一  計數(shù)器                  
 實驗十二  半加器和全加器的邏輯功能驗證                  
 實驗十三  邏輯電路的競爭冒險現(xiàn)象                  
 實驗十四  脈沖的產(chǎn)生與整形                  
 實驗十五  555定時器功能及應(yīng)用                  
 實驗十六  存儲器                  
 實驗十七  數(shù)模轉(zhuǎn)換器                  
 實驗十八  模數(shù)轉(zhuǎn)換器                  
 實驗十九  用PLD實現(xiàn)74LS138功能                  
 實驗二十  用PLD實現(xiàn)74LS90功能                  
 附錄A  Multisim 2001使用指南                  
 附錄B  NET-lI數(shù)字實驗系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及使用說明                  
 附錄C  數(shù)字集成電路引腳排列圖