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數(shù)字系統(tǒng)測試與可測試設計

數(shù)字系統(tǒng)測試與可測試設計

定　價：￥56.00

作　者： （美）阿布拉莫韋奇 等著，李華偉 等譯
出版社： 機械工業(yè)出版社
叢編項： 電子工程叢書
標　簽： 數(shù)字系統(tǒng)設計
ISBN： 9787111192374 出版時間： 2006-08-01 包裝： 膠版紙
開本： 16開 頁數(shù)： 449 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書系統(tǒng)介紹數(shù)字系統(tǒng)測試的理論和方法，深入探討測試生成、故障模型、故障模擬、可測試性設計、內(nèi)建自測試等主題，包括該領域的最新進展，并提供大量支持實踐應用的理論資料。本書共分15章，前8章主要介紹基礎的測試理論和方法，包括數(shù)字系統(tǒng)、數(shù)字微系統(tǒng)芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法、故障建模、故障模擬、測試單固定型故障、測試橋接故障、智能數(shù)字系統(tǒng)的功能測試及其范圍；第9～11章主要介紹數(shù)字系統(tǒng)的可測試性設計、內(nèi)建自測試、測試數(shù)據(jù)壓縮等現(xiàn)代測試理論和方法；第12～15章主要討論一些高級測試理論和方法，包括邏輯級與系統(tǒng)級診斷、自校驗設計和可編程邏輯陣列測試。 .本書可作為電路CAD技術人員、芯片和系統(tǒng)設計者以及測試工程師的參考資料，也可作為高等院校相關專業(yè)高年級本科生或研究生的教材。...

作者簡介

　　本書提供作譯者介紹李華偉：中國科學院計算技術研究所副研究員，先進測試技術實驗室副主任，博士生導師。1996年在湘潭大學計算機科學系獲學士學位。1999年和2001年分別在中科院計算技術研究所獲碩士學位和博士學位。主要研究領域為集成電路測試，在國內(nèi)外刊物和國際學術會議上發(fā)表論文60余篇，授權發(fā)明專利一項。獲中國科學院院長獎學金特別獎（2001年）、中國科學院杰出科技成就獎（2003年）及中國計算機學會創(chuàng)新獎（入圍獎／2005年）。.魯?。篠ynopsys公司工程師，計算機博士。2000年在哈爾濱理工大學計算...

圖書目錄

譯者序
譯者簡介
中文版前言
前言
本書是如何寫出來的
第1章 緒論
第2章 建模
2.1 基本概念
2.2 邏輯級的功能建模
2.3 寄存器級的功能建模
2.4 結構模型
2.5 建模的層次
參考文獻
習題
第3章 邏輯模擬
3.1 應用
3.2 基于模擬設計驗證中的問題
3.3 模擬的類型
3.4 未知的邏輯值
3.5 編譯后模擬
3.6 事件驅(qū)動模擬
3.7 葉延模型
3.8 元件求值
3.9 冒險檢測
3.10 門級事件驅(qū)動模擬
3.11 模擬引擎
參考文獻
習題
第4章 故障模型
4.1 邏輯故障模型
4.2 故障檢測和冗余
4.3 故障等價和故障定位
4.4 故障支配
4.5 單固定型故障模型
4.6 多固定型故障模型
4.7 固定的RTL變量
4.8 故障變量
參考文獻
習題
第5章 故障模擬
5.1 應用
5.2 通用故障模擬技術
5.3 組合電路的故障模擬
5.4 故障采樣
5.5 統(tǒng)計故障分析
5.6 本章小結
參考文獻
習題
第6章 單固定型故障測試
6.1 基本問題
6.2 組合電路中的單固定型故障的自動測試生成
6.3 時序電路SSF的ATC
6.4 本章小結
參考文獻
習題
第7章 橋接故障測試
7.1 橋接故障模型
7.2 無反饋橋接故障的檢測
7.3 橋接故障的檢測
7.4 橋接故障模擬
7.5 橋接故障的測試生成
7.6 本章小結
參考文獻
習題
第8章 功能測試
……
第9章 可測試性設計
第10章 測試壓縮技術
第11章 內(nèi)建自測試
第12章 邏輯級診斷
第13章 自校驗設計
第14章 PLA測試
第15章 系統(tǒng)級診斷
索引

本目錄推薦

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