無(wú)機(jī)材料顯微結(jié)構(gòu)分析

定　價(jià)：￥19.80

作　者：	周曦亞、畢舒
出版社：	化工
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787502587772	出版時(shí)間：	2007-03-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	124	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　無(wú)機(jī)材料顯微結(jié)構(gòu)是材料專業(yè)的必修課，特別是對(duì)于無(wú)機(jī)材料專業(yè)的學(xué)生，是其專業(yè)基礎(chǔ)課?！稛o(wú)機(jī)材料顯微結(jié)構(gòu)分析》包括晶體光學(xué)基礎(chǔ)理論、偏光顯微鏡分析方法、反光顯微鏡分析方法、電子光學(xué)基礎(chǔ)、透射電子顯微分析法、掃描電子顯微學(xué)、電子顯微分析在無(wú)機(jī)非金屬材料科學(xué)中的應(yīng)用、掃描隧道顯微鏡與原子力量微鏡，并且增加了部分相關(guān)實(shí)驗(yàn)?！稛o(wú)機(jī)材料顯微結(jié)構(gòu)分析》適合材料專業(yè)尤其是無(wú)機(jī)材料專業(yè)的本科生閱讀，也可作為相關(guān)專業(yè)從業(yè)人員的參考書。

作者簡(jiǎn)介

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圖書目錄

第一章　晶體光學(xué)基礎(chǔ)理論
　第一節(jié)　自然光和偏　光
　第二節(jié)　折射和雙折射
　第三節(jié)　光率體
　第四節(jié)　光率體在晶體中的方位——光性方位
第二章　偏光顯微鏡分析方法
　第一節(jié)　偏光顯微鏡
　第二節(jié)　偏光顯微鏡下材料的基本觀察和分析
　第三節(jié)　偏光顯微鏡的應(yīng)用實(shí)例
第三章　反光顯微鏡分析方法
　第一節(jié)　反光顯微鏡的構(gòu)造及類型
　第二節(jié)　反光顯微鏡下材料的基本觀察和分析
　第三節(jié)　反光顯微鏡下觀察式樣的制備
　第四節(jié)　反光顯微鏡的應(yīng)用實(shí)例
第四章　電子光學(xué)基礎(chǔ)
　第一節(jié)　電子顯微鏡為什么能出現(xiàn)
　第二節(jié)　電磁透鏡的光學(xué)性質(zhì)
第五章　透射電子顯微分析法
　第一節(jié)　透射電鏡的結(jié)構(gòu)
　第二節(jié)　透射電鏡的樣品制備
　第三節(jié)　透射電子顯微像
　第四節(jié)　選區(qū)電子?射分析
第六章　掃描電子顯微學(xué)
　第一節(jié)　概述
　第二節(jié)　掃描電子顯微學(xué)
第七章　電子顯微分析在無(wú)機(jī)非金屬材料學(xué)中的應(yīng)用
　第一節(jié)　粉末顆粒分析
　第二節(jié)　在陶瓷方面的應(yīng)用
　第三節(jié)　晶界及相界分析
　第四節(jié)　在水泥和混凝土方面的作用
第八章　掃描隧道顯微鏡與原子刀顯微鏡
　第一節(jié)　掃描隧道顯微鏡
　第二節(jié)　原子力顯微鏡（AFM）
參考文獻(xiàn)