材料科學(xué)研究與測試方法

定　價(jià)：￥33.00

作　者：	朱和國、王恒志編
出版社：	東南大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育"十一五"國家級(jí)規(guī)劃教材
標(biāo)　簽：	一般工業(yè)技術(shù)

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ISBN：	9787564111045	出版時(shí)間：	2008-01-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	333	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《普通高等教育“十一五”國家級(jí)規(guī)劃教材：材料科學(xué)研究與測試方法》首先介紹了晶體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)，然后系統(tǒng)介紹了X射線的物理基礎(chǔ)、X射線衍射的方向與強(qiáng)度、多晶體X射線衍射分析的方法、x射線衍射儀及其在物相鑒定、宏微觀應(yīng)力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構(gòu)分析等方面的應(yīng)用；介紹了電子衍射的物理基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、衍射成像、運(yùn)動(dòng)學(xué)襯度理論、高分辨透射電子顯微技術(shù)、掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與原理、電子探針及其應(yīng)用；介紹了AES、XPS、STM、LEED等常用表面分析技術(shù)和TG、DTA、DSC等常用熱分析技術(shù)的原理、特點(diǎn)及其應(yīng)用；最后簡單介紹了光譜分析技術(shù)，包括原子光譜、紅外光譜、激光光譜等。書中研究和測試的材料包括金屬材料、無機(jī)非金屬材料、高分子材料、非品態(tài)材料、金屬問化合物、復(fù)合材料等。對(duì)每章內(nèi)容作了提綱式的小結(jié)，并附有適量的思考題。書中采用了一些作者尚未發(fā)表的圖片和曲線，同時(shí)在實(shí)例分析中還注重引入了一些當(dāng)前材料界最新的研究成果。《普通高等教育“十一五”國家級(jí)規(guī)劃教材：材料科學(xué)研究與測試方法》是教育部評(píng)選的普通高等教育“十一五”國家級(jí)規(guī)劃教材，可作為材料科學(xué)與工程學(xué)科本科生的學(xué)習(xí)用書，也可供相關(guān)學(xué)科與專業(yè)的研究生、教師和科技工作者使用。

作者簡介

暫缺《材料科學(xué)研究與測試方法》作者簡介

圖書目錄

1 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1 晶體及其基本性質(zhì)
1.2 晶向、晶面及晶帶
1.3 晶體的宏觀對(duì)稱及點(diǎn)群
1.4 晶體的微觀對(duì)稱與空間群
1.5 晶體的投影
1.6 倒易點(diǎn)陣
本章小結(jié)
思考題
2 X射線的理基礎(chǔ)
2.1 X射線的發(fā)展史
2.2 X射線的性質(zhì)
2.3 X射線譜
2.4 X射線與物質(zhì)的相互作用
本章小結(jié)
思考題
3 X射線的衍射原理
3.1 X射線衍射的方向
3.2 X射線的衍射強(qiáng)度
本章小結(jié)
思考題
4 X射線的多晶衍射分析及其應(yīng)用
4.1 X射線衍射儀
4.2 X射線物相分析
4.3 點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
4.4 宏觀應(yīng)力的測定
4.5 微觀應(yīng)力及晶粒大小的測定
4.6 非晶態(tài)物質(zhì)及其晶化后的衍射
4.7 膜厚的測量
4.8 多晶體的織構(gòu)分析
本章小結(jié)
思考題
5 電子顯微分析的基礎(chǔ)
5.1 光學(xué)顯微鏡的分辨率
5.2 電子波的波長
5.3 電子與固體物質(zhì)的作用
5.4 電子衍射
本章小結(jié)
思考題
6 透射電子顯微鏡
7 薄晶體的高分辨像
8 掃描電子顯微鏡及電子探針
9 表面分析技術(shù)
10 熱分析技術(shù)
11 光譜分析技術(shù)
附錄
參考文獻(xiàn)