無機(jī)非金屬材料物相分析與研究方法

第1章 晶體學(xué)基礎(chǔ)
1.1 幾何結(jié)晶學(xué)
1.2 晶體的光學(xué)特性
第2章 偏光顯微鏡分析
2.1 偏振光
2.2 偏光顯微鏡
2.3 單偏光鏡下晶體的光學(xué)性質(zhì)
2.4 正交偏光鏡間晶體的光學(xué)性質(zhì)
2.5 錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)
2.6 油浸法
2.7 礦物顆粒大小及含量的測定
2.8 透明礦物薄片系統(tǒng)鑒定步驟
2.9 微攝影技術(shù)與圖像分析技術(shù)
第3章 反光顯微鏡下研究晶體的方法
3.1 反光顯微鏡的主要構(gòu)造
3.2 反光顯微鏡下觀察試樣的制備
3.3 反射光下的觀察
3.4 偏振光的反射原理
3.5 反光顯微分析應(yīng)用舉例
第4章 礦物巖相
4.1 礦物
4.2 礦物的分類與命名
4.3 巖石與巖相
第5章 陶瓷類材料巖相分析
5.1 普通陶瓷材料的相結(jié)構(gòu)
5.2 耐火材料巖相分析
5.3 玻璃巖相分析
5.4 典型陶瓷材料的顯微組織
第6章 硅酸鹽水泥熟料的巖相分析
6.1 硅酸鹽水泥熟料的礦物組成
6.2 硅酸鹽水泥熟料的巖相形態(tài)
第7章 紅外光譜分析
7.1 紅外光譜分析原理
7.2 紅外光譜在無機(jī)材料中的應(yīng)用
7.3 拉曼光譜
第8章 X射線衍射分析技術(shù)
8.1 X射線物理基礎(chǔ)
8.2 X射線的衍射原理
8.3 晶體對X射線衍射的基本方法
8.4 X射線物相定性分析
第9章 熱分析
9.1 概 述
9.2 差熱分析（DTA）
9.3 熱重分析（TG）
第10章 電子顯微分析
10.1 概 述
10.2 透射電鏡（TEM）
10.3 掃描電鏡（SEM）
參考文獻(xiàn)