同步輻射X射線(xiàn)應(yīng)用技術(shù)概論

第1章 同步輻射光源概述
1.1 引言
1.2 光源的原理和發(fā)展簡(jiǎn)史
1.3 光源主體結(jié)構(gòu)的構(gòu)造
1.3.1 直線(xiàn)加速器
1.3.2 電子同步加速器和電子回旋加速器
1.3.3 電子儲(chǔ)存環(huán)
1.4 光束線(xiàn)和線(xiàn)束設(shè)備
1.4.1 光束線(xiàn)的引出和前段區(qū)
1.4.2 線(xiàn)束設(shè)備
1.5 計(jì)算機(jī)控制
1.5.1 光源部分的計(jì)算機(jī)控制
1.5.2 計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)的軟件結(jié)構(gòu)
1.5.3 電子束和光束線(xiàn)中束流參數(shù)的測(cè)量和控制
1.6 光源的主要特征
1.7 實(shí)驗(yàn)站和應(yīng)用實(shí)驗(yàn)技術(shù)分類(lèi)及應(yīng)用領(lǐng)域
1.7.1 光束線(xiàn)和實(shí)驗(yàn)站的分類(lèi)
1.7.2 應(yīng)用實(shí)驗(yàn)技術(shù)分類(lèi)和應(yīng)用領(lǐng)域
1.8 應(yīng)用實(shí)驗(yàn)研究課題的準(zhǔn)備、申請(qǐng)和實(shí)施
1.8.1 細(xì)致做好實(shí)驗(yàn)研究課題的準(zhǔn)備工作
1.8.2 認(rèn)真提出實(shí)驗(yàn)研究課題的申請(qǐng)報(bào)告
1.8.3 準(zhǔn)時(shí)赴同步輻射實(shí)驗(yàn)站做實(shí)驗(yàn)
參考文獻(xiàn)
第2章 同步輻射中衍射術(shù)及其應(yīng)用基礎(chǔ)
2.1 高分辨粉末衍射和多晶樣品的結(jié)構(gòu)測(cè)定
2.1.1 高分辨X射線(xiàn)粉末衍射術(shù)
2.1.2 多晶樣品衍射花樣的Rietveld結(jié)構(gòu)精修
2.1.3 多晶樣品結(jié)構(gòu)測(cè)定從頭計(jì)算法
2.2 六圓衍射儀、勞厄法和單晶樣品的結(jié)構(gòu)測(cè)定
2.2.1 X射線(xiàn)單晶六圓衍射儀
2.2.2 單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定的勞厄法
2.2.3 面探測(cè)器在單晶樣品結(jié)構(gòu)測(cè)定中的應(yīng)用
2.2.4 單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定的相角問(wèn)題及其解
2.2.5 單晶結(jié)構(gòu)的精修
2.2.6 單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定小結(jié)
2.3 掠入射X射線(xiàn)衍射和表面結(jié)構(gòu)
2.3.1 掠入射X射線(xiàn)衍射術(shù)
2.3.2 原子尺度薄膜的研究
2.3.3 工程薄膜和多層膜的研究
2.4 多重衍射及其應(yīng)用
2.4.1 多重衍射的基本原理
2.4.2 獲得多重衍射花樣的實(shí)驗(yàn)方法
2.4.3 多重衍射的某些應(yīng)用
2.5 X射線(xiàn)異常衍射和差分衍射
2.5.1 異常散射和選擇元素衍射
2.5.2 相角測(cè)定的異常衍射法
2.5.3 晶體學(xué)中分?jǐn)偽恢脝?wèn)題
2.5.4 異常寬角衍射和粉末差分衍射
2.6 能量色散衍射
2.6.1 波長(zhǎng)色散衍射和能量色散衍射
2.6.2 能量色散衍射的兩種工作模式及其比較
2.6.3 波長(zhǎng)色散和能量色散衍射方法的比較
2.7 特殊條件下衍射實(shí)驗(yàn)研究
參考文獻(xiàn)
第3章 同步輻射中散射術(shù)及其應(yīng)用基礎(chǔ)
3.1 小角X射線(xiàn)散射
3.1.1 小角X射線(xiàn)散射的實(shí)驗(yàn)裝置
3.1.2 粒子的形狀、大小完全相同時(shí)小角散射強(qiáng)度及其分布的Guinier近似
3.1.3 樣品中粒子形狀相同但大小不同時(shí)的散射強(qiáng)度
3.1.4 顆粒大小及其分布的測(cè)定
3.1.5 納米材料分形結(jié)構(gòu)研究
3.1.6 二維小角X射線(xiàn)散射
3.1.7 異常小角X射線(xiàn)散射
3.2 廣角X射線(xiàn)散射和廣角X射線(xiàn)異常散射
3.2.1 全徑向分布函數(shù)的廣角X射線(xiàn)散射測(cè)定
3.2.2 廣角X射線(xiàn)異常散射部分徑向分布函數(shù)測(cè)定
3.3 X射線(xiàn)非彈性散射與物質(zhì)動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)的研究
3.3.1 動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)研究理論基礎(chǔ)簡(jiǎn)介
3.3.2 X射線(xiàn)非彈性散射的實(shí)驗(yàn)方法
3.3.3 動(dòng)力學(xué)結(jié)構(gòu)的非彈性散射研究
3.4 其他散射術(shù)及其應(yīng)用
3.4.1 漫散射測(cè)定
3.4.2 磁散射和磁衍射
3.4.3 拉曼散射
參考文獻(xiàn)
第4章 同步輻射中光譜術(shù)及其應(yīng)用基礎(chǔ)
4.1 X射線(xiàn)發(fā)射譜及其精細(xì)結(jié)構(gòu)
4.1.1 X射線(xiàn)發(fā)射譜
4.1.2 X射線(xiàn)發(fā)射譜化學(xué)分析
4.1.3 X射線(xiàn)發(fā)射譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)
4.2 X射線(xiàn)吸收譜和近限結(jié)構(gòu)
4.2.1 吸收限
4.2.2 用X射線(xiàn)吸收譜的化學(xué)定性定量分析
4.2.3 X射線(xiàn)吸收近限結(jié)構(gòu)
4.3 擴(kuò)展 射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)
4.3.1 EXAFS的基本原理
4.3.2 EXAFS譜的測(cè)量方法
4.3.3 局域結(jié)構(gòu)研究
4.3.4 原子價(jià)態(tài)的研究
4.4 俄歇電子能譜
4.4.1 俄歇電子的能量和強(qiáng)度
4.4.2 用俄歇電子譜的元素定性定量分析
4.4.3 用俄歇電子譜的元素化學(xué)價(jià)態(tài)研究
4.5 光電子能譜
4.5.1 光電子能譜的能量和強(qiáng)度
4.5.2 X射線(xiàn)光電子能譜化學(xué)分析
4.5.3 光電子能譜的價(jià)態(tài)研究
4.5.4 光電子能譜的價(jià)態(tài)研究實(shí)例
4.6 軟X射線(xiàn)磁圓二色譜術(shù)
4.6.1 X射線(xiàn)磁圓二色的基本原理
4.6.2 軟X射線(xiàn)磁圓二色譜的實(shí)驗(yàn)裝置
4.6.3 軟X射線(xiàn)磁圓二色譜實(shí)例
4.7 拉曼譜和非彈性散射譜
4.7.1 拉曼譜
4.7.2 非彈性散射譜
4.8 譜學(xué)聯(lián)合裝置
參考文獻(xiàn)
第5章 同步輻射中成像術(shù)及其應(yīng)用基礎(chǔ)
5.1 基于吸收襯度的成像術(shù)及其應(yīng)用
5.1.1 吸收襯度原理
5.1.2 人體的X射線(xiàn)透視檢查
5.1.3 材料的X射線(xiàn)探傷
5.1.4 軟X射線(xiàn)心血管造影
5.1.5 在安檢方面的應(yīng)用
5.2 計(jì)算機(jī)輔助層析成像術(shù)
5.2.1 X射線(xiàn)CT成像原理
5.2.2 人體CT檢查
5.2.3 CT在材料和礦樣中的應(yīng)用
5.3 衍射襯度成像術(shù)及其應(yīng)用
5.3.1 X射線(xiàn)貌相術(shù)
5.3.2 貌相圖像的直接顯示
5.3.3 衍襯貌相圖中缺陷像的分析方法
5.4 基于相位襯度的成像術(shù)及其應(yīng)用
5.4.1 相位襯度原理
5.4.2 X射線(xiàn)干涉相襯成像方法
5.5 X射線(xiàn)全息成像術(shù)
5.5.1 全息術(shù)的工作原理
5.5.2 X射線(xiàn)全息術(shù)的實(shí)驗(yàn)要求
5.5.3 X射線(xiàn)全息的記錄方式
5.6 三位一體成像術(shù)和明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像
5.7 其他譜學(xué)成像術(shù)
參考文獻(xiàn)
第6章 同步輻射中光刻、微細(xì)加工等技術(shù)及其應(yīng)用基礎(chǔ)
6.1 引言
6.2 X射線(xiàn)光刻的一般原理
6.3 光刻對(duì)同步輻射光源和光束線(xiàn)的要求
6.4 X射線(xiàn)光刻掩模和光刻膠
6.4.1 X射線(xiàn)光刻掩模
6.4.2 X射線(xiàn)光刻膠
6.5 X射線(xiàn)光刻裝置——Stepper
6.6 微細(xì)加工新技術(shù)——UGA
6.6.1 LIGA技術(shù)工藝
6.6.2 深度光刻
6.6.3 國(guó)內(nèi)某些研究實(shí)例
6.7 同步輻射光化學(xué)術(shù)及其應(yīng)用
6.7.1 光化學(xué)刻蝕
6.7.2 光化學(xué)反應(yīng)低溫薄膜工藝
6.8 同步輻射輻照術(shù)及其應(yīng)用
6.8.1 輻照改性
6.8.2 輻照育種
參考文獻(xiàn)