干涉成像光譜技術(shù)

序
前言
第1章 成像光譜技術(shù)
1.1 光譜技術(shù)和光譜儀的發(fā)展
1.2 成像技術(shù)和成像儀的發(fā)展
1.3 成像光譜技術(shù)的產(chǎn)生與發(fā)展
1.3.1 成像光譜技術(shù)的產(chǎn)生、分類及研究現(xiàn)狀
1.3.2 成像光譜技術(shù)發(fā)展趨勢
本章小結(jié)
第2章 干涉成像光譜技術(shù)
2.1 干涉成像光譜技術(shù)的產(chǎn)生、發(fā)展及最新研究動態(tài)
2.2 干涉成像光譜技術(shù)的基礎(chǔ)理論與基本原理
2.2.1 干涉圖與復(fù)原光譜
2.2.2 分辨率與切趾問題
2.2.3 圖像數(shù)據(jù)采集與處理
本章小結(jié)
第3章 空間調(diào)制干涉成像光譜技術(shù)
3.1 空間調(diào)制干涉成像光譜技術(shù)原理
3.2 橫向剪切分束器
3.3 空間調(diào)制干涉成像光譜儀物理模型
3.4 影響SMII干涉圖調(diào)制度的主要因素
本章小結(jié)
第4章 偏振干涉成像光譜技術(shù)
4.1 單軸晶體光學(xué)性質(zhì)簡介
4.1.1 晶體分類及o光、e光的折射率
4.1.2 光的雙折射現(xiàn)象
4.1.3 主截面、主平面
4.2 偏振干涉成像光譜技術(shù)的產(chǎn)生及發(fā)展
4.3 新型偏振干涉成像光譜技術(shù)原理
4.3.1 新型偏振干涉成像光譜技術(shù)原理
4.3.2 新方案(SPIIS)與原方案(狹縫式)的主要區(qū)別
4.4 基于Savart板的橫向剪切分束器
4.4.1 Savart板
4.4.2 Savart偏光鏡
4.4.3 視場補償型Savart偏光鏡
4.5 Savart偏光鏡光程差及橫向剪切量的計算
4.6 基于Wollaston棱鏡的角剪切分束器
4.6.1 角剪切量
4.6.2 光程差及條紋間隔
4.6.3 廣角Wollaston棱鏡
4.7 條紋的定位
本章小結(jié)
第5章 超小型穩(wěn)態(tài)偏振干涉成像光譜儀(USPIIS)研究
5.1 USPIIS系統(tǒng)設(shè)計及參數(shù)
5.1.1 USPIIS裝置
5.1.2 參數(shù)確定
5.2 干涉成像光譜實驗及結(jié)論分析
5.2.1 實驗
5.2.2 光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)計算
5.2.3 干涉圖與復(fù)原光譜
5.2.4 提高干涉圖信噪比及光譜分辨率的主要途徑
5.3 USPHS中偏振化方向?qū)φ{(diào)制度的影響
5.3.1 偏振光強度、振動方向?qū)φ{(diào)制度的影響
5.3.2 USPIIS的調(diào)制度
5.3.3 調(diào)制度隨偏振化方向的變化
5.3.4 偏振化方向允差分析實例
5.3.5 結(jié)論
5.4 USPIIS通量的分析與計算
5.4.1 USPIIS的通量
5.4.2 各種情形下的通量數(shù)值
5.4.3 結(jié)論
本章小結(jié)
第6章 穩(wěn)態(tài)大視場偏振干涉成像光譜儀(sLPIIS)研究
6.1 SLPIIS原理及廣角補償原理
6.2 SLPIIS調(diào)制度的分析與計算
6.2.1 λ/2板光軸方向偏離理想方向時o和e光振動面的旋轉(zhuǎn)
6.2.2 SLPIIS中偏振光電矢量的分解與合成
6.2.3 SLPIIS中調(diào)制度的分析與計算
6.2.4 調(diào)制度隨偏振化方向、λ/2板光軸取向的變化
6.3 SLPIIS的通量分析
6.3.1 SLPIIS通量的分析與計算
6.3.2 幾種情形下的通量取值
6.3.3 最大調(diào)制度時通量的分析計算實例
6.4 結(jié)論
本章小結(jié)
第7章 衛(wèi)星遙感大氣風(fēng)場的干涉成像光譜探測技術(shù)研究
7.1 干涉成像光譜技術(shù)測量大氣風(fēng)場原理
7.1.1 氣輝(極光)的形成
7.1.2 風(fēng)場速度、溫度的測量
7.1.3 垂直方向風(fēng)場探測
7.2 計算機仿真實驗及誤差分析
7.2.1 計算機仿真實驗、誤差分析
7.2.2 結(jié)論
7.3 廣角邁克耳孫干涉儀(WAMI)探測大氣風(fēng)場
7.3.1 探測原理
7.3.2 計算實例與裝置設(shè)想
7.3.3 結(jié)論
7.4 Fabry-Perot干涉儀(FPI)探測大氣風(fēng)場
7.4.1 風(fēng)場速度、溫度的FPI測量原理
7.4.2 風(fēng)場測量特例分析
7.4.3 結(jié)論
本章小結(jié)
參考文獻