大中型光學非球面鏡制造與測量新技術

上篇 制造技術
　第一章 現(xiàn)代非球面光學研拋技術基礎
　　1.1 光學非球面的優(yōu)點及應用
　　1.2 光學非球鏡制造的特點
　　1.3 超光滑表面制造技術
　　1.4 先進非球面光學研拋技術
　　參考文獻
　第二章 非球面光學研拋技術的基礎理論
　　2.1 光學機械研拋技術的preston方程及其應用
　　2.2 非球面加工的確定性成形原理
　　2.3 非球面加工的成形過程理論分析
　　2.4 全口徑線性掃描方式面形修正理論
　　2.5 極軸掃描方式面形修正技術
　　2.6 成形的頻域分析
　　2.7 熵最大研拋原理
　　參考文獻
　第三章 基于小研拋盤工具的ccos技術
　　3.1 基于小研拋盤工具的ccos技術綜述
　　3.2 aocmt光學非球面加工機床
　　3.3 去除函數(shù)的建模與分析
　　3.4 ccos技術中駐留時間算法及分析
　　3.5 邊緣效應下的去除函數(shù)建模
　　3.6 光學表面小尺度制造誤差的產(chǎn)生原因與修正方法
　　3.7 大中型非球面研拋加工控制策略及實驗
　　參考文獻
　第四章 離子束拋光技術
　　4.1 離子束拋光技術概述
　　4.2 光學鏡面離子束拋光的基本理論
　　4.3 離子束拋光去除函數(shù)建模分析
　　4.4 離子束加工系統(tǒng)設計與分析
　　4.5 離子束拋光面形誤差收斂與精度預測預報
　　4.6 離子束拋光的小尺度誤差演變
　　4.7 離子束拋光試驗
　　參考文獻
　第五章 磁流變拋光技術
　　5.1 磁流變拋光技術概述
　　5.2 磁流變拋光材料去除機理與數(shù)學模型
　　5.3 磁流變拋光機床
　　5.4 磁流變拋光液及其性能測試研究
　　5.5 磁流變拋光工藝參數(shù)優(yōu)化
　　5.6 磁流變拋光的光學表面成形技術及加工實例
　　5.7 磁射流拋光技術研究
　　參考文獻
　第六章 確定性光學加工誤差的評價方法
　　6.1 概述
　　6.2 常用的光學加工誤差評價方法
　　6.3 光學加工誤差分布特征的分析方法
　　6.4 光學加工誤差的散射性能評價方法
　　6.5 基于光學性能分析的頻帶誤差評價方法
　　參考文獻
下篇 測量技術
　第一章 大中型光學鏡面制造中的測量技術
　　1.1 緒論
　　1.2 大中型光學鏡面制造中的坐標測量技術原理
　　1.3 大中型光學鏡面制造中的干涉零位測量技術
　　1.4 大中型光學鏡面制造中的非零位測量技術
　　1.5 相位恢復技術
　　1.6 亞表面質(zhì)量檢測技術
　　1.7 大中型光學鏡面制造中的測量實例
　　參考文獻
　第二章 光學非球面坐標測量技術
　　2.1 光學非球面坐標測量技術的研究現(xiàn)狀與發(fā)展趨勢
　　2.2 大口徑非球面直角坐標測量技術研究
　　2.3 大型非球面擺臂式測量技術研究
　　2.4 基于多段拼接的高陡度非球面坐標檢測理論與算法
　　參考文獻
　第三章 子孔徑拼接測量方法
　　3.1 概述
　　3.2 子孔徑拼接基本算法
　　3.3 子孔徑拼接迭代算法
　　3.4 子孔徑劃分方法
　　3.5 子孔徑拼接測量工作站
　　3.6 子孔徑拼接測量的實驗驗證
　　3.7 子孔徑拼接測量方法的發(fā)展趨勢
　　參考文獻
　第四章 大中型光學鏡面相位恢復在位檢測技術
　　4.1 相位恢復檢測技術綜述
　　4.2 相位恢復測量的基本原理和算法
　　4.3 球面波的相位恢復檢測
　　4.4 亞像素分辨率相位恢復測量研究
　　4.5 非球面鏡的相位恢復檢測技術
　　4.6 非球面鏡相位恢復測量實驗
　　參考文獻
　第五章 光學零件制造中的亞表面質(zhì)量檢測與保障
　　5.1 亞表面質(zhì)量概述
　　5.2 亞表面損傷的產(chǎn)生機理
　　5.3 磨削和研磨亞表面損傷檢測技術
　　5.4 亞表面損傷表征方法
　　5.5 亞表面損傷深度預測方法
　　5.6 加工參數(shù)對亞表面損傷深度的影響規(guī)律研究
　　5.7 亞表面質(zhì)量保障技術
參考文獻