近代物理實(shí)驗(yàn)教程

緒論
第一章　原子物理實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1.1　夫蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1.2　塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1.3　激光拉曼散射光譜
實(shí)驗(yàn)1.4　密立根油滴實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1.5　鈉原子光譜的拍攝與分析
實(shí)驗(yàn)1.6　氫、氘原子光譜
第二章　原子核物理實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)2.1　C-M計(jì)數(shù)器和核衰變的統(tǒng)計(jì)規(guī)律
實(shí)驗(yàn)2.2　穆斯堡爾效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)2.3　正電子湮沒壽命譜的測(cè)量
第三章　現(xiàn)代光學(xué)與光譜實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)3.1　半導(dǎo)體泵浦激光原理
實(shí)驗(yàn)3.2　He-Ne激光器的模式分析
實(shí)驗(yàn)3.3　光學(xué)多通道分析
實(shí)驗(yàn)3.4　多功能光柵光譜儀吸收光譜分析
實(shí)驗(yàn)3.5　黑體測(cè)量
實(shí)驗(yàn)3.6　偏振光現(xiàn)象
實(shí)驗(yàn)3.7　激光全息技術(shù)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)3.8　光學(xué)信息處理
附實(shí)驗(yàn)一　空間濾波
附實(shí)驗(yàn)二　假彩色編碼(0調(diào)制)
實(shí)驗(yàn)3.9　橢圓偏振法測(cè)量薄膜厚度和折射率
第四章　光(聲)電效應(yīng)技術(shù)及應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)4.1　去拉第效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)4.2　電光效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)4.3　聲光效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)4.4　LD/LED的P-I-V特性曲線測(cè)試
實(shí)驗(yàn)4.5　光電探測(cè)原理實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)4.6　光電倍增管特性參數(shù)的測(cè)試
實(shí)驗(yàn)4.7　探針法測(cè)電阻率
第五章　磁共振技術(shù)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)5.1　脈沖核磁共振實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)5.2　微波電子順磁共振
實(shí)驗(yàn)5.3　微波鐵磁共振
實(shí)驗(yàn)5.4　光泵磁共振
第六章　微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)
實(shí)驗(yàn)6.1　單光子計(jì)數(shù)
實(shí)驗(yàn)6.2　相關(guān)器的研究及其主要參數(shù)測(cè)量
實(shí)驗(yàn)6.3　鎖相技術(shù)
實(shí)驗(yàn)6.4　表面光電壓譜技術(shù)
第七章　真空技術(shù)與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)7.1　電子衍射
實(shí)驗(yàn)7.2　等離子體輝光放電特性測(cè)量
實(shí)驗(yàn)7.3　真空鍍膜
第八章　低溫技術(shù)與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)8.1　高溫超導(dǎo)材料臨界溫度測(cè)量
實(shí)驗(yàn)8.2　變溫霍爾效應(yīng)測(cè)量
第九章　微波技術(shù)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)9.1　反射式速調(diào)管工作特性與波導(dǎo)管工作狀態(tài)研究
實(shí)驗(yàn)9.2　微波技術(shù)綜合實(shí)驗(yàn)
附實(shí)驗(yàn)一　微波實(shí)驗(yàn)測(cè)試儀器調(diào)整及應(yīng)用
附實(shí)驗(yàn)二　圓極化波的產(chǎn)生與檢測(cè)
附實(shí)驗(yàn)三　圓極化波的反射和折射
第十章　綜合性物理實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)10.1　鐵電材料性能測(cè)試與分析
實(shí)驗(yàn)10.2　壓電陶瓷的電學(xué)性能分析
實(shí)驗(yàn)10.3　晶體X射線衍射與材料結(jié)構(gòu)分析
實(shí)驗(yàn)10.4　ZnO薄膜制備、結(jié)構(gòu)和光電性質(zhì)表征
附錄1　基本物理常量1998年平差值
附錄2　中華人民共和國(guó)法定計(jì)量單位