當(dāng)代光學(xué)計量測試技術(shù)概論

第1章 緒論
1.1 計量學(xué)的內(nèi)涵
1.2 計量學(xué)的特點
1.2.1 計量學(xué)的基本特點
1.2.2 國防計量的特點
1.3 計量基準和標準的基本概念
1.4 傳統(tǒng)計量量值傳遞存在的不足
1.5 量子計量基準
1.5.1 量子計量基準的基本概念
1.5.2 21世紀的量子計量基準
1.6 光學(xué)計量測試的研究范疇
1.7 光學(xué)計量測試的發(fā)展趨勢
1.8 光度學(xué)和光輻射計量基準的發(fā)展和演變
1.8.1 光度學(xué)基準的發(fā)展與演變
1.8.2 光輻射基準的發(fā)展與演變
1.9 常規(guī)計量與非常規(guī)量限計量
1.1 0非常規(guī)量限光學(xué)計量的需求
1.1 1非常規(guī)量限光學(xué)計量的內(nèi)容
1.1 2誤差與測量不確定度
1.1 2.1 測量誤差
1.1 2.2 測量不確定度
參考文獻

第2章 光學(xué)量子計量基礎(chǔ)
2.1 量子光學(xué)基本概念
2.2 光子的基本性質(zhì)
2.3 光子的簡并度
2.4 激光技術(shù)基礎(chǔ)知識
2.4.1 受激輻射與量子躍遷
2.4.2 激光器的組成
2.4.3 激光的基本特性
2.4.4 常用激光器件
2.5 激光與計量基準
2.5.1 激光與長度單位米的新定義
2.5.2 激光與時間單位--秒
2.5.3 激光與質(zhì)量自然基準
2.5.4 激光與基本物理常數(shù)的測量
2.5.5 激光在未來計量科學(xué)中的應(yīng)用
2.6 光子有關(guān)名詞術(shù)語
參考文獻

第3章 雙光子相關(guān)計量技術(shù)
3.1 雙光子相關(guān)技術(shù)概述
3.2 自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換
3.2.1 非線性光學(xué)現(xiàn)象
3.2.2 非線性光學(xué)材料
3.2.3 光學(xué)非線性波長變換技術(shù)
3.3 自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子在計量學(xué)中的應(yīng)用
3.3.1 用自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子測量探測器量子效率
3.3.2 雙光子相關(guān)測量探測器量子效率的影響因素分析
3.3.3 用自發(fā)參量下轉(zhuǎn)換雙光子測量紅外光源輻射功率
3.3.4  用相干可見光子絕對測量紅外輻射量的理論推導(dǎo)
參考文獻

第4章 單光子探測技術(shù)
4.1 光電探測技術(shù)基礎(chǔ)
4.1.1 光電效應(yīng)
4.1.2 光電效應(yīng)與光電探測器
4.2 單光子探測器
4.2.1 單光子探測器的原理及種類
4.2.2 光電倍增管單光子探測器
4.2 ，3雪崩光電二極管單光子探測器
4.2.4 真空雪崩光電二極管單光子探測器
4.2.5  增強光電二極管單光子探測器
4.2.6 頻率上轉(zhuǎn)換單光子探測器
4.3 超導(dǎo)單光子探測技術(shù)
4.3.1 超導(dǎo)臨界相變單光子探測技術(shù)
4.3.2 利用超導(dǎo)臨界電流密度實現(xiàn)的單光子探測技術(shù)
4.4 光子數(shù)分辨探測技術(shù)
4.4.1 光子數(shù)分辨探測原理與分類
4.4.2 越界超導(dǎo)傳感光子數(shù)分辨技術(shù)
4.4.3 利用電荷積分探測器進行光子數(shù)分辨
4.4.4 利用雪崩光電二極管單光子探測技術(shù)進行光子數(shù)分辨
4.5 單光子源
4.5.1 單光子源及其應(yīng)用
4.5.2 單光子發(fā)射
4.5.3 發(fā)光二極管衰減單光子源
4.5.4 激光二極管單光子源
4.5.5 量子點單光子源
4.5.6 下參量單光子源
4.6 單光子探測器主要參數(shù)的校準與檢測
4.6.1 單光子探測器主要技術(shù)指標
4.6.2 單光子探測器的絕對量子標定
4.6.3 單光子探測器計數(shù)性能檢測
4.6.4 單光子探測器暗計數(shù)的檢測
4.6.5 單光子探測器光譜響應(yīng)度測量
4.6.6 單光子探測器的線性度測量
參考文獻

第5章 光子計數(shù)技術(shù)
5.1 概述
5.2 光子計數(shù)系統(tǒng)
5.2.1 光子計數(shù)的工作原理
5.2.2 基本光子計數(shù)系統(tǒng)
5.2.3 補償源光子計數(shù)系統(tǒng)
5.2.4 背景補償光子計數(shù)系統(tǒng)
5.3 利用光子計數(shù)技術(shù)的弱光度測量
5.3.1 光通量與光子速率
5.3.2 光通量與光電子速率
5.3.3 光電子速率和微照度的測量
5.3.4 光子計數(shù)微弱光自動測量系統(tǒng)
5.3.5  建立在光子計數(shù)基礎(chǔ)上的弱光度標準
5.4 光子計數(shù)系統(tǒng)的標定
5.4.1  用光照度平方反比定律法校準線性度
5.4.2 使用發(fā)光二板管校準線性度
5.4.3 光子計數(shù)器的輻射定標
5.5 時間相關(guān)單光子計數(shù)
5.5.1 時間相關(guān)單光子計數(shù)原理
5.5.2 時間相關(guān)單光子計數(shù)系統(tǒng)組成
5.6 時間分辨光子計數(shù)
5.7 光子計數(shù)技術(shù)應(yīng)用實例
5.7.1 三代微光信噪比校準用弱光光源照度校準
5.7.2 光子計數(shù)技術(shù)在微脈沖激光測距中的應(yīng)用
5.7.3  光子計數(shù)技術(shù)在激光脈沖探測中的應(yīng)用
5.7.4 皮秒時間相關(guān)單光子計數(shù)光譜儀
參考文獻

第6章 單光子成像計量測試技術(shù)
6.1 光電成像技術(shù)基礎(chǔ)
6.1.1 光電成像原理
6.1.2 光電成像系統(tǒng)中的核心部件
6.2 單光子計數(shù)成像原理
6.2.1 間接型探測系統(tǒng)
6.2.2 直接型探測系統(tǒng)
6.3 單光子成像技術(shù)的特點及性能表征
6.3.1 單光子成像技術(shù)的特點
6.3.2 單光子計數(shù)成像的性能表征
6.4 光電成像核心部件性能測試
6，4.1 光陰極性能測試
6.4.2 微通道板性能測試
6.4.3 光纖面板性能測試
6.5 光子計數(shù)成像系統(tǒng)性能測試
6.5.1 光子計數(shù)像管等效背景照度測試
6.5.2 光子計數(shù)像管光子增益測試
6.5.3 光子計數(shù)像管暗計數(shù)測試
6.5.4 光子計數(shù)像管輸出信噪比的測量
6.5.5 光子計數(shù)像管調(diào)制傳遞函數(shù)的測量
6.5.6 光子計數(shù)像管分辨力的測量
6.5.7 楔條形陽極光子計數(shù)探測器成像性能的檢測
6.6 單光子成像系統(tǒng)的標定
6.6.1 可見光系統(tǒng)的標定
6.6.2 紫外系統(tǒng)的標定
參考文獻

第7章 長度的量子計量
7.1 米和米的最新定義
7.2 貫徹執(zhí)行米的新定義
7.3 實現(xiàn)米定義的穩(wěn)頻激光器
7.3.1 穩(wěn)頻激光和參考譜線
7.3.2 激光穩(wěn)頻技術(shù)
7.3.3 抑制譜線加寬和穩(wěn)頻激光器
7.4 穩(wěn)頻激光器的頻率測量
……
第8章 時間頻率的量子計量
第9章 納米計量測試技術(shù)
第10章 真空紫外和極紫外計量測試
第11章 高能激光計量測試技術(shù)
第12章 超短脈沖激光時間特性測量
第13章 大型光學(xué)元件和系統(tǒng)參數(shù)計量測試
第14章 微型光學(xué)元件性能測試
第15章 高反射光學(xué)薄膜高反射比測量
第16章 大尺寸光學(xué)材料參數(shù)計量測試技術(shù)