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光學(xué)測(cè)試技術(shù)

光學(xué)測(cè)試技術(shù)

定 價(jià):¥49.90

作 者: 劉承 等編著
出版社: 電子工業(yè)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 工業(yè)技術(shù) 一般工業(yè)技術(shù)

ISBN: 9787121201943 出版時(shí)間: 2013-06-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁(yè)數(shù): 311 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  《光電信息科學(xué)與工程類專業(yè)規(guī)劃教材:光學(xué)測(cè)試技術(shù)》從基本原理出發(fā),著重闡述各種物理量的光學(xué)測(cè)試技術(shù)、方法和手段,選材上既注重基礎(chǔ)理論性更著重實(shí)用性和先進(jìn)性,是學(xué)習(xí)、掌握先進(jìn)的精密測(cè)試技術(shù)的一本入門教材和技術(shù)實(shí)用書籍。《光電信息科學(xué)與工程類專業(yè)規(guī)劃教材:光學(xué)測(cè)試技術(shù)》包括6章內(nèi)容,分別為緒論、光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光調(diào)制及掃描技術(shù)、光纖傳感技術(shù)和光納米傳感與測(cè)量技術(shù)。附錄A主要講述光信號(hào)的探測(cè)方法及其相應(yīng)電信號(hào)的處理方法,以供讀者參考使用。

作者簡(jiǎn)介

  劉承,浙江大學(xué)光電系,教授/博導(dǎo)。1989年清華大學(xué)精密儀器系光學(xué)儀器專業(yè)本科畢業(yè)。1992年浙江大學(xué)光學(xué)儀器系測(cè)試計(jì)量技術(shù)及儀器專業(yè)碩士畢業(yè)。1995年9月浙江大學(xué)光電與科學(xué)儀器系博士畢業(yè),之后留校任教,1997年1月赴美UCDavis進(jìn)行博士后研究,1998年4月回國(guó),在浙江大學(xué)光電信息工程系任教至今。2002年晉升教授、博導(dǎo)?,F(xiàn)任浙江大學(xué)光學(xué)慣性技術(shù)工程中心主任。2010年度求是特聘教授。

圖書目錄

緒論 光學(xué)測(cè)試技術(shù)概述
0.1 光學(xué)測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)
0.2 光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)的組成
0.3 光學(xué)測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀
0.4 光學(xué)測(cè)試方法的選擇
0.5 光學(xué)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展方向
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
第1章 光干涉技術(shù)
1.1 光干涉的基礎(chǔ)理論
1.1.1 相干光場(chǎng)的性質(zhì)
1.1.2 光的干涉條件
1.1.3 干涉條紋的對(duì)比度
1.1.4 干涉條紋的形狀與間隔
1.2 雙光束干涉技術(shù)
1.2.1 平行平板雙光束干涉
1.2.2 等厚干涉與斐索干涉儀
1.2.3 泰曼-格林干涉儀
1.2.4 馬赫-曾德爾干涉儀
1.2.5 數(shù)字干涉儀
1.3 多光束干涉技術(shù)
1.3.1 平行平板的多光束干涉條紋
1.3.2 法布里-珀羅干涉儀
1.3.3 應(yīng)用法布里-珀羅干涉儀測(cè)光譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)
1.3.4 應(yīng)用法布里-珀羅干涉儀比較波長(zhǎng)
1.4 剪切干涉技術(shù)
1.4.1 波面剪切的形成
1.4.2 剪切干涉測(cè)量原理
1.4.3 剪切干涉儀及其應(yīng)用
1.5 外差干涉技術(shù)
1.5.1 外差干涉技術(shù)的提出
1.5.2 產(chǎn)生激光外差干涉的途徑
1.5.3 外差干涉測(cè)長(zhǎng)原理
1.5.4 激光測(cè)振儀
1.6 全息干涉技術(shù)
1.6.1 全息干涉基本原理
1.6.2 全息干涉技術(shù)及應(yīng)用
1.6.3 激光全息干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用
1.7 激光散斑干涉技術(shù)
1.7.1 散斑及其形成的原理
1.7.2 散斑的性質(zhì)
1.7.3 散斑照相測(cè)量原理
1.7.4 散斑干涉測(cè)量技術(shù)
1.7.5 散斑剪切干涉術(shù)
1.7.6 散斑干涉測(cè)量的應(yīng)用
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
第2章 光衍射技術(shù)
2.1 激光衍射測(cè)量理論
2.1.1 衍射的分類
2.1.2 菲涅耳衍射
2.1.3 夫瑯禾費(fèi)衍射
2.1.4 激光衍射測(cè)量技術(shù)
2.2 微光學(xué)中的光衍射理論
2.2.1 標(biāo)量衍射理論
2.2.2 矢量衍射理論
2.3 衍射光學(xué)元件
2.3.1 衍射光柵
2.3.2 衍射光的控制與效率
2.3.3 衍射光柵的應(yīng)用
2.4 Talbot效應(yīng)及其應(yīng)用技術(shù)
2.4.1 Talbot效應(yīng)原理
2.4.2 Talbot效應(yīng)的應(yīng)用
2.5 莫爾條紋技術(shù)
2.5.1 條紋形成原理
2.5.2 衍射干涉原理
2.5.3 莫爾條紋的特點(diǎn)
2.5.4 莫爾條紋光學(xué)系統(tǒng)的構(gòu)成與分類
2.5.5 莫爾條紋測(cè)試技術(shù)應(yīng)用
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
第3章 光調(diào)制解調(diào)及掃描技術(shù)
3.1 光調(diào)制技術(shù)
3.2 常用光調(diào)制技術(shù)
3.2.1 光強(qiáng)度的空間調(diào)制技術(shù)
3.2.2 光強(qiáng)度的時(shí)間調(diào)制技術(shù)
3.2.3 光的頻率調(diào)制技術(shù)
3.2.4 光的相位調(diào)制技術(shù)
3.2.5 光的偏振態(tài)調(diào)制技術(shù)
3.3 調(diào)制信號(hào)的解調(diào)技術(shù)
3.3.1 調(diào)幅信號(hào)的解調(diào)
3.3.2 調(diào)相信號(hào)的解調(diào)與相敏檢波
3.4 光掃描技術(shù)
3.4.1 光掃描技術(shù)原理
3.4.2 光強(qiáng)衍射掃描技術(shù)
3.4.3 相位調(diào)制掃描技術(shù)
3.4.4 白光掃描干涉技術(shù)
3.5 激光多普勒技術(shù)
3.5.1 激光多普勒效應(yīng)
3.5.2 差動(dòng)多普勒技術(shù)
3.5.3 激光多普勒測(cè)速技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
第4章 光纖傳感技術(shù)
4.1 光纖原理與結(jié)構(gòu)
4.1.1 光纖結(jié)構(gòu)原理
4.1.2 光纖模式與傳輸
4.1.3 光纖中的偏振
4.2 光纖傳感的概念與類別
4.2.1 光纖傳感的定義及特點(diǎn)
4.2.2 光纖傳感系統(tǒng)的組成
4.2.3 光纖傳感系統(tǒng)的分類
4.2.4 調(diào)制原理分類
4.3 強(qiáng)度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.1 介質(zhì)的吸收特性
4.3.2 透射式強(qiáng)度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.3 光波模式強(qiáng)度調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.3.4 光吸收型強(qiáng)度調(diào)制光纖傳感技術(shù)
4.4 波長(zhǎng)調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.4.1 黑體輻射波長(zhǎng)調(diào)制技術(shù)
4.4.2 熒光波長(zhǎng)調(diào)制技術(shù)
4.5 相位調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.6 偏振態(tài)調(diào)制型光纖傳感技術(shù)
4.6.1 磁光效應(yīng)
4.6.2 磁光調(diào)制技術(shù)
4.6.3 溶液旋光性
4.7 傳光型光纖傳感技術(shù)
4.7.1 光纖微彎傳感技術(shù)
4.7.2 光纖輻射傳感技術(shù)
4.8 干涉型光纖傳感技術(shù)
4.8.1 光纖邁克耳孫干涉儀
4.8.2 光纖馬赫-曾德爾Mach-Zehnder干涉儀
4.8.3 光纖薩格納克干涉儀
4.8.4 光纖法布里-珀羅干涉儀
4.9 光纖布拉格光柵傳感技術(shù)
4.9.1 光纖布拉格光柵的原理
4.9.2 光纖布拉格光柵的應(yīng)變特性
4.9.3 光纖布拉格光柵的溫度傳感特性
4.9.4 光纖光柵傳感系統(tǒng)的基本組成
4.9.5 光纖光柵傳感器的敏感性
4.9.6 光纖光柵溫度與應(yīng)變交叉敏感特性
4.9.7 光纖光柵傳感器的波長(zhǎng)解調(diào)技術(shù)
4.9.8 光纖光柵傳感器應(yīng)用技術(shù)
4.10 傳感器的復(fù)用技術(shù)
4.10.1 光纖傳感器網(wǎng)絡(luò)的一般形式
4.10.2 點(diǎn)傳感器的復(fù)用技術(shù)
4.10.3 分布式傳感技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
第5章 光納米傳感與測(cè)量技術(shù)
5.1 納米光學(xué)與納米測(cè)量概述
5.2 倏逝波原理與傳感技術(shù)
5.2.1 倏逝波原理
5.2.2 基于倏逝波的傳感技術(shù)
5.3 表面等離子體共振技術(shù)
5.3.1 SPR技術(shù)原理
5.3.2 SPR技術(shù)的應(yīng)用
5.3.3 SPR傳感器的性能
5.4 近場(chǎng)光學(xué)探測(cè)技術(shù)
5.4.1 近場(chǎng)光學(xué)原理
5.4.2 光子隧道理論
5.4.3 近場(chǎng)探測(cè)技術(shù)
5.4.4 近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡的應(yīng)用
5.4.5 其他的納米級(jí)測(cè)試方法
5.5 光納米傳感技術(shù)的發(fā)展方向
5.5.1 亞波長(zhǎng)光學(xué)元件技術(shù)
5.5.2 MOEMS技術(shù)
練習(xí)與思考題
本章參考文獻(xiàn)
附錄
A 光探測(cè)及信號(hào)處理技術(shù)
A.1 光信號(hào)探測(cè)技術(shù)
A.2 模擬電信號(hào)調(diào)理技術(shù)
A.3 數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)
練習(xí)與思考題
參考文獻(xiàn)

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