材料表征的近代物理方法

前言
第1章 緒論
　1.1 材料表征的意義和內(nèi)容
　1.2 材料微觀結構表征的物理方法
第2章 材料表征的傳統(tǒng)方法
　2.1 透射電子顯微術
　　2.1.1 概述
　　2.1.2 儀器和工作模式
　　2.1.3 圖像襯度形成機制
　　2.1.4 選區(qū)電子衍射
　　2.1.5 試樣制備技術
　2.2 掃描電子顯微術
　　2.2.1 概述
　　2.2.2 掃描電鏡的成像原理和結構
　　2.2.3 高速電子流與固體物質的相互作用
　　2.2.4 結構細節(jié)、分辨率和襯度
　　2.2.5 圖像襯度機制
　　2.2.6 試樣準備
　　2.2.7 圖像解釋
　　2.2.8 應用實例
　2.3 X射線衍射術
　　2.3.1 布拉格定律
　　2.3.2 單晶體衍射
　　2.3.3 多晶體衍射
　　2.3.4 X射線衍射術的最近進展
　2.4 紅外吸收光譜術
　　2.4.1 基本原理
　　2.4.2 分子的振動形式
　　2.4.3 紅外光譜四要素
　　2.4.4 紅外光譜術的應用
　　2.4.5 紅外光譜新技術
　2.5 材料的成分分析
　　2.5.1 特征X射線分析
　　2.5.2 背散射電子分析
　　2.5.3 俄歇電子分析
　　2.5.4 X射線光電子能譜分析
　　參考文獻
第3章 同步輻射x射線術
　3.1 引言
　　3.1.I 同步輻射光源的發(fā)生
　　3.1.2 同步輻射光源發(fā)展簡史
　　3.1.3 同步輻射光源的構造
　　3.1.4 同步輻射光源的優(yōu)點
　　3.1.5 同步輻射的應用概述
　3.2 x射線吸收精細結構
　　3.2.1 XAFS簡介
　　3.2.2 XAFS裝置
　　3.2.3 XAFS實驗方法和樣品制備
　　3.2.4 XAFS的應用實例
　3.3 同步輻射X射線衍射技術
　　3.3.1 SR—XRD簡介
　　3.3.2 同步輻射X射線單晶衍射技術
　　3.3.3 同步輻射X射線多晶衍射技術
　　3.3.4 應用實例
　3.4 同步輻射小角X射線散射
　　3.4.1 SR—SAXS簡介
　　3.4.2 SR—SAXS應用實例
　3.5 同步輻射其他線站的新進展
　　3.5.1 同步輻射軟X射線譜學顯微光束線站
　　3.5.2 硬X射線微聚焦線站
　　3.5.3 生物大分子晶體學線站
　　參考文獻
第4章 原子力顯微術
　4.1 原子力顯微術的主要功能和適用領域
　　4.1.1 SPM、STM和AFM
　　4.1.2 AFM的主要功能
　　4.1_3 幾種顯微術的比較
　4.2 基本原理和儀器學
　　4.2.1 儀器結構和成像原理
　　4.2.2 AFM探針
　　4.2.3 針尖
　4.3 操作模式
　4.4 成像模式
　　4.4.1 高度像
　　4.4.2 相位像
　　4.4.3 設定比
　　4.4.4 偏差像
　　4.4.5 側向力像
　　4.4.6 力調制模式像
　　4.4.7 力曲線和納米力學圖
　4.5 試樣準備
　　4.5.1 概述
　　4.5.2 切片術和表面切平術
　　4.5.3 斷裂面術
　　4.5.4 大分子試樣的準備
　4.6 圖像解釋
　　4.6.1 針尖引起的偽跡
　　4.6.2 光學干涉條紋
　　4.6.3 熱漂移
　　4.6.4 掃描器性能的影響
　　4.6.5 振動引起的偽跡
　　4.6.6 針尖力的影響
　4.7 材料表征的AFM應用
　　4.7.1 聚合物材料
　　4.7.2 碳材料
　　4.7.3 復合材料
　　參考文獻
第5章 激光拉曼光譜術
　5.1 拉曼光譜術的適用范圍
　5.2 拉曼散射和拉曼光譜
　　5.2.1 拉曼散射和瑞利散射
　　5.2.2 拉曼峰的頻移、強度、峰寬和偏振
　　5.2.3 溫度和壓力對拉曼峰的影響
　　5.2.4 定量分析和定性分析
　5.3 儀器和主要技術
　　5.3.1 拉曼光譜儀
　　5.3.2 顯微拉曼光譜術
　　5.3.3 纖維光學拉曼光譜術
　　5.3.4 增強拉曼光譜術
　　5.3.5 拉曼光譜的噪聲及其減除
　　5.3.6 試樣準備和安置
　5.4 拉曼光譜術的應用
　　5.4.1 成分鑒別
　　5.4.2 聚合物的分子結構
　　5.4.3 結晶結構
　　5.4.4 取向結構
　　5.4.5 共混聚合物的相結構
　　5.4.6 界面微觀結構
　　5.4.7 界面微觀力學
　　參考文獻