納米科學與技術：振幅調制原子力顯微術

《納米科學與技術》叢書序
譯者序
前言
符號表
第1章 導論
1．1 原子力顯微術的誕生
1．2 原子力顯微術的發(fā)展階段與里程碑
1．2．1 早期發(fā)展（1987-1992年）
1．2．2 探索與拓展（1993-1999年）
1．2．3 微懸臂探針動力學（2000-2006年）
1．2．4 多頻原子力顯微術（2007年至今）
1．3 輕敲模式或振幅調制原子力顯微術
1．4 其他動態(tài)原子力顯微術
1．4．1 頻率調制原子力顯微術
1．4．2 振幅調制與頻率調制原子力顯微術的對比
參考文獻
第2章 儀器與基礎概念
2．1 概述
2．2 振幅調制原子力顯微術
2．3 振幅調制原子力顯微鏡的基本組成
2．3．1 反饋控制器
2．3．2 光束反射式偏轉檢測技術
2．3．3 其他偏轉檢測技術
2．3．4 針尖-樣品運動系統(tǒng)
2．3．5 圖像獲取與顯示
2．4 微懸臂探針系統(tǒng)
2．4．1 微懸臂
2．4．2 針尖
2．4．3 微懸臂探針振蕩的激勵
2．5 校正標準
2．5．1 光學靈敏度
2．5．2 微懸臂力常數(shù)的校準
2．6 常規(guī)實驗曲線
2．6．1 大氣和液體環(huán)境下的共振曲線
2．6．2 振幅和相位偏移與距離的關系曲線
2．7 位移與距離
參考文獻
第3章 針尖-表面間相互作用力
3．1 概述
3．2 范德華力
3．3 機械接觸力
3．3．1 Derjaguin-Muller-Toporov模型
3．3．2 Johnson-Kendall-Roberts模型
3．4 毛細力
3．5 液體環(huán)境下的力
3．5．1 靜電雙層力
3．5．2 Derjaguin-Landau-Verwey-（）verbeek力
3．5．3 溶劑化力
3．5．4 水溶液中的其他力
3．6 靜電力
3．7 非保守力
3．8 凈針尖-表面間相互作用力
3．8．1 存在表面黏附回滯的硬質材料
3．8．2 黏彈性材料
參考文獻
第4章 振幅調制原子力顯微術的基礎理論
4．1 概述
4．2 運動方程
4．3 點質量模型：基礎方面
4．3．1 諧振子
4．3．2 弱擾動下的諧振子動力學
4．4 點質量模型：解析近似
4．4．1 擾動下的諧振子
4．4．2 Wang模型
4．4．3 位力能量耗散方法
4．5 頂點力與平均力
4．5．1 頂點力
4．5．2 平均力
4．6 點質量模型：數(shù)值解
4．6．1 吸引和排斥相互作用區(qū)
4．6．2 小于共振頻率的微懸臂激勵
4．7 有效模型
附錄：Runge-Kutta法
參考文獻
第5章 振幅調制原子力顯微術的高等理論
5．1 概述
5．2 品質因數(shù)控制技術
5．3 非線性動力學
5．4 連續(xù)微懸臂梁模型
5．4．1 一維模型
5．5 點質量模型和連續(xù)模型的等價性
5．6 系統(tǒng)理論描述
5．7 力的重建方法：力與距離的關系曲線
5．7．1 Lee-Jhe法
5．7．2 Holscher法
5．8 時間分辨的力
5．8．1 加速度
5．8．2 高次諧振方法
5．8．3 直接測量時間分辨的力
參考文獻
第6章 液體環(huán)境下的振幅調制原子力顯微術
6．1 概述
6．2 液體中微懸臂動力學的定量描述
6．2．1 遠離表面的動力學
6．2．2 靠近表面的動力學
6．3 液體中的相互作用力
6．4 一些實驗和理論方面的考慮
6．5 液體中動態(tài)原子力顯微術的理論描述
6．5．1 解析描述：遠離表面
6．5．2 解析和數(shù)值描述：存在針尖-表面間相互作用力
6．5．3 半解析模型
6．5．4 有限元模擬
參考文獻
第7章 原子力顯微術中的相位像
7．1 概述
7．2 原子力顯微術中的相位成像
7．3 AFM相位成像的理論描述
7．3．1 原子級的相位成像：高品質因數(shù)
7．3．2 一般相位成像：低品質因數(shù)
7．4 納米尺度下能量耗散的測量
7．4．1 能量耗散與可觀測量
7．4．2 能量耗散過程的辨識
7．4．3 原子和納米尺度下能量耗散的過程
參考文獻
第8章 分辨率、噪聲與靈敏度
8．1 概述
8．2 空間分辨率
8．2．1 垂直分辨率與噪聲
8．2．2 橫向分辨率
8．3 圖像失真與表面重建
8．4 力誘導的表面形變
8．5 原子、分子及亞納米級的橫向分辨率
8．5．1 真實原子分辨
8．6 單個分子的高分辨成像
8．7 高分辨成像的條件
8．8 圖像中的偽象
參考文獻
……
第9章 多頻原子力顯微術
第10章 超越形貌成像
索引