綜合與近代物理實(shí)驗(yàn)

第1章 原子物理與核物理類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1．1 α粒子散射
實(shí)驗(yàn)1．2 弗蘭克一赫茲實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)1．3 塞曼效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)1．4 電子衍射
實(shí)驗(yàn)1．5 用快速電子驗(yàn)證相對論效應(yīng)
第2章 光學(xué)類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)2．1 空間頻率濾波（附θ調(diào)制）
實(shí)驗(yàn)2．2 光學(xué)傳遞函數(shù)的測量和像質(zhì)評價(jià)
實(shí)驗(yàn)2．3 測定光源的輻射能譜
實(shí)驗(yàn)2．4 電子俘獲材料熒光光譜特性的研究
實(shí)驗(yàn)2．5 全息光柵的制作
實(shí)驗(yàn)2．6 像面全息圖
實(shí)驗(yàn)2．7 數(shù)字全息
實(shí)驗(yàn)2．8 光學(xué)雙穩(wěn)態(tài)現(xiàn)象
實(shí)驗(yàn)2．9 液晶的電光效應(yīng)
實(shí)驗(yàn)2．10 單光子計(jì)數(shù)
實(shí)驗(yàn)2．11 利用透射光譜測定濾光片透過率
實(shí)驗(yàn)2．12 利用白光干涉測定薄膜厚度
第3章 微波類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)3．1 微波工作波長和波導(dǎo)波長測量
實(shí)驗(yàn)3．2 用諧振腔微擾法測定微波電介質(zhì)的介電常數(shù)
實(shí)驗(yàn)3．3 微波分光儀
實(shí)驗(yàn)3．4 微波布拉格（Bragg）衍射
第4章 磁共振類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)4．1 核磁共振
實(shí)驗(yàn)4．2 脈沖核磁共振與核磁共振成像
實(shí)驗(yàn)4．3 射頻段電子自旋共振（ESR）
實(shí)驗(yàn)4．4 微波段電子自旋共振
實(shí)驗(yàn)4．5 光泵磁共振
第5章 超聲波類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)5．1 超聲光柵
實(shí)驗(yàn)5．2 超聲波測量及超聲探傷
第6章 x射線類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)6．1 X射線在單晶上的衍射
實(shí)驗(yàn)6．2 X射線能譜與管電壓和發(fā)射電流的關(guān)系
實(shí)驗(yàn)6．3 鉬陽極X射線特征譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)
實(shí)驗(yàn)6．4 用杜恩一亨特關(guān)系測定普朗克常數(shù)
實(shí)驗(yàn)6．5 邊緣吸收：X射線濾波
實(shí)驗(yàn)6．6 莫斯利定理測定里德堡常數(shù)
實(shí)驗(yàn)6．7 康普頓效應(yīng)：研究散射X光量子的能量損失
第7章 半導(dǎo)體技術(shù)類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)7．1 半導(dǎo)體激光器的電學(xué)和光學(xué)性能測試
實(shí)驗(yàn)7．2 鍺的帶隙寬度測量
第8章 材料制備類實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)8．1 射頻磁控濺射鍍膜
實(shí)驗(yàn)8．2 用氣氛程控高溫爐制備材料
第9章 其他綜合性物理實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)9．1 非線性電路振蕩周期的分岔與混沌
實(shí)驗(yàn)9．2 制冷系數(shù)的測定
實(shí)驗(yàn)9．3 鐵電體電滯回線及居里溫度的測量
實(shí)驗(yàn)9．4 表面等離子體共振
實(shí)驗(yàn)9．5 用磁阻效應(yīng)測量地磁場
實(shí)驗(yàn)9．6 用交直流磁化率法測定稀磁合金的自旋玻璃態(tài)特性
實(shí)驗(yàn)9．7 用雙光柵測量微弱振動
附錄A 中華人民共和國法定計(jì)量單位
附錄B 常用物理數(shù)據(jù)