單板級JTAG測試技術(shù)

第1章 測試的基本概念
1.1 數(shù)字電路測試
1.1.1 測試
1.1.2 測試分類
1.1.3 數(shù)字電路分類
1.2 故障及故障模型
1.3 算法
1.4 測試覆蓋率和故障檢出率
1.5 測試矢量
1.5.1 組合電路的測試矢量生成
1.5.2 時序電路的測試矢量生成
1.6 可測性
1.6.1 可控性
1.6.2 可觀性
1.6.3 可測性設(shè)計方法
第2章 單板級.ITAG測試
2.1 背景介紹
2.2 傳統(tǒng)單板測試方法的困難
2.2.1 在線測試
2.2.2 光學測試
2.2.3 功能測試
2.3 生產(chǎn)制造應用
2.4 JTAG測試技術(shù)
2.5 單板級JTAG測試
……
第3章 IEEE1149.X標準
第4章 單板級邊界掃描可測性設(shè)計
第5章 邊界掃描測試技術(shù)應用
第6章 串行矢量格式
第7章 內(nèi)建自測試技術(shù)
第8章 片上仿真測試
第9章 嵌入測試
參考文獻