聚變工程實(shí)驗(yàn)堆裝置主機(jī)設(shè)計(jì)

前言
第一章 超導(dǎo)磁體設(shè)計(jì)
第一節(jié) 托卡馬克裝置超導(dǎo)磁體基本原理
第二節(jié) 托卡馬克裝置超導(dǎo)磁體研究關(guān)鍵技術(shù)
第三節(jié) CFETR縱場超導(dǎo)磁體
一、縱場超導(dǎo)磁體基本結(jié)構(gòu)及導(dǎo)體設(shè)計(jì)
二、縱場超導(dǎo)磁體支撐系統(tǒng)及冷卻系統(tǒng)設(shè)計(jì)
三、縱場磁體電磁和結(jié)構(gòu)分析計(jì)算
第四節(jié) CFETR中心螺管超導(dǎo)磁體
一、中心螺管超導(dǎo)磁體基本結(jié)構(gòu)及導(dǎo)體設(shè)計(jì)
二、中心螺管超導(dǎo)磁體支撐系統(tǒng)及冷卻系統(tǒng)設(shè)計(jì)
三、中心螺管磁體電磁和結(jié)構(gòu)分析計(jì)算
第五節(jié) CFETR平衡場超導(dǎo)磁體
一、平衡場超導(dǎo)磁體基本結(jié)構(gòu)及導(dǎo)體設(shè)計(jì)
二、平衡場超導(dǎo)磁體支撐系統(tǒng)及冷卻系統(tǒng)設(shè)計(jì)
三、平衡場磁體電磁和結(jié)構(gòu)分析計(jì)算
第六節(jié) CFETR超導(dǎo)磁體導(dǎo)體穩(wěn)定性校核．|
一、超導(dǎo)體材料性能以及材料參數(shù)
二、穩(wěn)定性計(jì)算工況
三、CFETR導(dǎo)體定標(biāo)率及穩(wěn)定性分析
參考文獻(xiàn)
第二章 磁約束聚變堆杜瓦系統(tǒng)
第一節(jié) 杜瓦系統(tǒng)工作原理及功能
第二節(jié) 杜瓦系統(tǒng)研究發(fā)展現(xiàn)狀
第三節(jié) 杜瓦系統(tǒng)中的關(guān)鍵技術(shù)問題
第四節(jié) CFETR杜瓦系統(tǒng)
一、系統(tǒng)描述
二、設(shè)計(jì)要求
三、杜瓦系統(tǒng)設(shè)計(jì)
第五節(jié) 關(guān)鍵技術(shù)難點(diǎn)
參考文獻(xiàn)
第三章 冷屏
第一節(jié) 托卡馬克冷屏系統(tǒng)概述
第二節(jié) 國內(nèi)外主要托卡馬克冷屏的研究現(xiàn)狀
第三節(jié) CFETR冷屏系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)
第四節(jié) CFETR冷屏系統(tǒng)描述
一、總體描述
二、功能描述
三、系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)
四、系統(tǒng)級(jí)別定義
五、系統(tǒng)接口
第五節(jié) CFETR冷屏系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求
一、一般設(shè)計(jì)要求
二、功能設(shè)計(jì)要求
三、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)要求
四、機(jī)械設(shè)計(jì)要求（包括載荷條件）
五、制冷能力及真空要求
六、接地和絕緣要求
七、電器、儀器及控制設(shè)計(jì)要求
八、加工制造及裝配要求
九、材料要求
十、安全要求
十一、測試、驗(yàn)收及退役后處理要求
第六節(jié) CFETR冷屏系統(tǒng)設(shè)計(jì)
一、杜瓦冷屏
二、支撐冷屏
三、真空室冷屏
四、冷屏冷卻系統(tǒng)
五、冷屏儀器設(shè)備
六、一般及其他組件
七、熱分析
第七節(jié) 運(yùn)行及維護(hù)
一、運(yùn)行狀態(tài)
二、維護(hù)要求
參考文獻(xiàn)
第四章 真空室
第五章 包層系統(tǒng)設(shè)計(jì)
第六章 偏濾器
第七章 遙操作維護(hù)系統(tǒng)
第八章 主機(jī)RAMI設(shè)計(jì)
第九章 主機(jī)裝配及測量
第十章 協(xié)同項(xiàng)目管理及協(xié)同設(shè)計(jì)
部分縮寫和縮略語