電子電路測量與設(shè)計實驗

第1章 基礎(chǔ)知識
1．1 電子電路實驗課程的特點和學(xué)習(xí)方法
1．1．1 電子電路實驗課程的目的
1．1．2 電子電路實驗的特點
1．1．3 電子電路實驗的基本流程及學(xué)習(xí)要求
1．2 電子測量的基本知識
1．2．1 什么是電子測量
1．2．2 電子測量的儀器
1．2．3 電子測量的方法
1．2．4 正確選擇測量方法和測量儀器
1．3 電子電路中的抗干擾技術(shù)
1．3．1 噪聲的特點
1．3．2 抑制噪聲的方法
1．3．3 接地技術(shù)
1．4 誤差的基本知識
1．4．1 電子測量中產(chǎn)生誤差的原因
1．4．2 誤差的分類
1．4．3 誤差的表示方法
1．5 測量數(shù)據(jù)的讀取和處理
1．5．1 有效數(shù)字與測量數(shù)據(jù)的讀取
1．5．2 直接測量數(shù)據(jù)的處理
1．5．3 圖解法分析數(shù)據(jù)
1．6 電子電路的安裝與調(diào)測
1．6．1 電子電路的安裝
1．6．2 電子電路的調(diào)測
1．6．3 電子電路的故障分析與排查
第2章 常用電子元器件
2．1 電阻器
2．1．1 固定電阻器
2．1．2 電位器
2．1．3 敏感電阻器
2．1．4 幾種特殊類型電阻器
2．2 電容器
2．2．1 電容器的分類及命名方法
2．2．2 固定電容器的技術(shù)指標(biāo)與標(biāo)識
2．2．3 電容器的選用與測量
2．3 電感器
2．3．1 電感器的分類及技術(shù)指標(biāo)
2．3．2 電感器的標(biāo)識與檢測
2．4 常用半導(dǎo)體分立器件
2．4．1 常用半導(dǎo)體分立器件
2．4．2 半導(dǎo)體分立器件的型號命名方法
2．4．3 半導(dǎo)體分立器件的主要參數(shù)
2．4．4 二極管、晶體管的選用
2．4．5 二極管、晶體管的檢測
2．5 集成電路
2．5．1 集成電路分類
2．5．2 集成電路的型號命名
2．5．3 集成電路使用注意事項
第3章 常用電子測量儀表簡介
3．1 數(shù)字式萬用表
3．1．1 數(shù)字式萬用表基本原理
3．1．2 數(shù)字式萬用表使用注意事項
3．2 指針式萬用表
3．2．1 指針式萬用表基本原理
3．2．2 指針式萬用表的使用注意事項
3．3 通用模擬示波器
3．3．1 通用模擬示波器工作原理
3．3．2 通用模擬示波器的正確使用
3．4 數(shù)字存儲示波器
3．4．1 數(shù)字存儲示波器原理
3．4．2 數(shù)字存儲示波器的使用
第4章 基本電參數(shù)的測量
4．1 電壓的測量
4．1．1 直流電壓的測量
4．1．2 交流電壓的測量
4．1．3 噪聲電壓的測量
4．2 電流的測量
4．2．1 直流電流的測量
4．2．2 交流電流的測量
4．3 與時間相關(guān)的參數(shù)的測量
4．3．1 周期的測量
4．3．2 時間間隔的測量
4．3．3 頻率的測量
4．3．4 相位差的測量
第5章 基本電路調(diào)測技術(shù)與實驗
5．1 指針式萬用表測元件的伏安特性
5．1．1 元件伏安特性及測量的相關(guān)知識
5．1．2 實驗項目：指針式萬用表測元件的伏安特性
5．2 有源二端網(wǎng)絡(luò)等效參數(shù)測量及戴維南定理的驗證
5．2．1 有源二端網(wǎng)絡(luò)及測量的相關(guān)知識
5．2．2 實驗項目：有源二端網(wǎng)絡(luò)等效參數(shù)測量及戴維南定理的驗證
5．3 受控源的實驗研究
5．3．1 受控源的相關(guān)知識
5．3．2 實驗項目：受控源的實驗研究
5．4 常用電子測量儀器儀表使用練習(xí)
5．4．1 常用電子測量儀表使用的相關(guān)知識
5．4．2 實驗項目：常用電子測量儀器儀表練習(xí)
5．5 一階RC電路的實驗研究
5．5．1 一階RC電路的相關(guān)知識
5．5．2 實驗項目：一階RC電路的實驗研究
5．6 單級晶體管放大電路的靜態(tài)調(diào)測與動態(tài)測試
5．6．1 相關(guān)知識
5．6．2 實驗項目1：晶體管放大電路靜態(tài)調(diào)測與增益測試
5．6．3 實驗項目2：晶體放大電路靜態(tài)調(diào)測與輸入／輸出電阻測試
5．6．4 實驗項目3：射極跟隨器的調(diào)測與研究
5．7 集成運放組成的負反饋放大器研究
5．7．1 集成運放參數(shù)對放大器的影響及點頻法測幅頻特性
5．7．2 實驗項目：負反饋放大器的研究
5．8 OTL功率放大器的研究
5．8．1 功率放大器的相關(guān)知識
5．8．2 實驗項目OTL功率放大器的應(yīng)用與研究
第6章 電子電路的設(shè)計調(diào)測與實驗
6．1 單級共射晶體管放大電路的設(shè)計與調(diào)測
6．1．1 單級共射晶體管放大電路的設(shè)計
6．1．2 實驗項目：單級共射晶體管放大電路的設(shè)計與調(diào)測
6．2 差分放大電路設(shè)計與調(diào)測
6．2．1 差分放大電路相關(guān)知識
6．2．2 實驗項目：差分放大電路的設(shè)計與調(diào)測
6．3 集成運算放大器的線性應(yīng)用
6．3．1 集成運算放大器的相關(guān)知識
6．3．2 實驗項目：集成運算放大器的線性應(yīng)用
6．4 電壓比較器的設(shè)計與調(diào)測
6．4．1 電壓比較器的相關(guān)知識
6．4．2 實驗項目：電壓比較器的設(shè)計與調(diào)測
第7章 Multisim仿真軟件的使用
7．1 Multisim軟件的概述
7．2 Multisire軟件的基本情況
7．2．1 Multisim軟件的技術(shù)特點
7．2．2 Multisim元器件庫介紹
7．3 Multisim軟件的基本使用方法
7．3．1 建立和保存電路文件
7．3．2 放置元器件和儀表
7．3．3 元器件編輯、連線以及進一步的調(diào)整
7．3．4 觀察仿真結(jié)果
7．3．5 仿真結(jié)果分析
附錄 實驗報告格式