臨床X線頭影測(cè)量學(xué)

第一章 X線頭影測(cè)量發(fā)展簡(jiǎn)史
第一節(jié) 人類學(xué)測(cè)量研究
第二節(jié) 人類學(xué)研究對(duì)口腔正畸學(xué)的啟迪
第三節(jié) X射線與頭影測(cè)量
第四節(jié) 頭影測(cè)量的傳奇故事
第五節(jié) Broadbent、Hofrath與X線頭影測(cè)量技術(shù)
第六節(jié) X線頭影測(cè)量的發(fā)展現(xiàn)狀
第二章 頭顱定位X線攝像
第一節(jié) 頭顱定位儀及其定位原理
一、頭顱定位儀
二、頭顱定位儀的定位原理
第二節(jié) X線攝像與頭顱定位側(cè)位片
一、體位
二、投照距離和放大誤差
三、同一矢狀平面上的放大誤差
四、X線頭顱定位側(cè)位片
第三章 頭顱定位側(cè)位片上各主要影像的解剖結(jié)構(gòu)及描跡圖
一、額骨
二、鼻額縫
三、鼻骨
四、眶側(cè)緣和眶下緣
五、顳下窩前壁和顴牙槽嵴
六、垂體窩
七、蝶骨板
八、篩狀板
九、額骨篩狀切跡緣
十、前床突
十一、額骨眶面
十二、蝶骨大翼（大腦面）
十三、翼上頜裂
十四、后床突
十五、蝶骨斜坡
十六、枕骨基部
十七、外耳道
十八、枕骨髁突
十九、上頜骨
二十、下頜骨
二十一、樞椎與寰椎
第四章 描跡圖的描跡方法
第一節(jié) 描跡所需工具
第二節(jié) Johnston均分法
一、Johnston均分法的均分原理
二、Johnston均分法的操作
三、Johnston均分法之我見
第三節(jié) 描跡方法
第五章 常用頭顱定位側(cè)位影像測(cè)量標(biāo)志點(diǎn)
一、常用顱部標(biāo)志點(diǎn)
二、常用上頜標(biāo)志點(diǎn)
三、常用下頜標(biāo)志點(diǎn)
四、常用軟組織側(cè)貌標(biāo)志點(diǎn)
第六章 頭影測(cè)量平面
第一節(jié) 基準(zhǔn)平面
一、前顱底平面
二、眶耳平面
三、Bolton平面
第二節(jié) 硬組織常用測(cè)量平面
一、腭平面
二、全顱底平面
三、駘平面
四、下頜平面
五、下頜升支平面
六、面平面
七、NA平面
八、上下牙槽座平面
九、AP平面
十、Y軸
第三節(jié) 軟組織常用測(cè)量平面
一、軟組織面平面
二、審美平面
三、Holdaway線
四、Steiner軟組織觀察線
五、側(cè)貌輪廓線
六、鼻下點(diǎn)垂直線
七、額點(diǎn)垂線
第七章 常用X線頭影分析法
第一節(jié) 數(shù)學(xué)測(cè)量分析
一、常用測(cè)量項(xiàng)目
（一）顱底及相鄰結(jié)構(gòu)
（二）上、下頜骨
（三）牙-牙槽
（四）前、后面部高度
（五）軟組織測(cè)量項(xiàng)目與面部側(cè)貌美學(xué)
二、常用測(cè)量分析法
（一）Tweed分析法與Tweed-Merrifield經(jīng)典方絲弓個(gè)體化診斷設(shè)計(jì)系統(tǒng)
（二）Wylie分析法
（三）Bjork分析法
（四）Downs分析法
（五）Riedel分析法
（六）Steiner分析法
（七）Coben分析法
（八）Ricketts分析法
（九）四邊形分析法
（十）“Wits”分析法
第二節(jié) 重疊描跡圖形態(tài)比較法
一、以觀察牙頜、顱面總體改變的圖跡重疊法
（一）Bolton平面重疊法
（二）前顱底平面重疊法
（三）眶耳平面重疊法
二、以分別觀察上、下頜骨及牙齒局部改變的圖跡重疊法
（一）上頜圖跡重疊法
（二）下頜圖跡重疊法
三、Johnston圖跡重疊法
四、Johnston“草耙”分析法
第八章 頭顱正位片的測(cè)量分析
一、頭顱正位片的投照與誤差
二、頭顱正位片的標(biāo)志點(diǎn)
三、正位片中的參考平面
四、頭顱正位片的應(yīng)用
五、頭顱正位片的分析方法
第九章 X線頭影測(cè)量中的誤區(qū)
一、描圖誤區(qū)
（一）上、下中切牙
（二）對(duì)均分法的錯(cuò)誤理解和運(yùn)用
（三）幾個(gè)組織結(jié)構(gòu)的描圖誤區(qū)
二、定點(diǎn)誤區(qū)
（一）髁突點(diǎn)
（二）高角病例頦前點(diǎn)的定位
（三）軟組織鼻根點(diǎn)
三、連線與切線
（一）混淆了幾何學(xué)中“連線”與“切線”的概念
（二）切點(diǎn)與切線段
四、常用測(cè)量平面、角度和方法
（一）測(cè)量平面
（二）角度
（三）測(cè)量方法
（四）眶耳平面
第十章 關(guān)于X線頭影測(cè)量的可靠性問(wèn)題
一、關(guān)于定點(diǎn)誤差
二、關(guān)于基準(zhǔn)平面
三、關(guān)于某些測(cè)量項(xiàng)目的實(shí)際代表性問(wèn)題
第十一章 計(jì)算機(jī)頭影測(cè)量與CBCT的應(yīng)用
一、計(jì)算機(jī)X線頭影測(cè)量系統(tǒng)
二、錐形束CT為基礎(chǔ)的三維頭影測(cè)量
附錄 數(shù)字化頭影測(cè)量——幾何畫板技術(shù)
一、幾何畫板的工具介紹
二、制作模板
三、測(cè)量的具體應(yīng)用
四、其他分析法的模板制作及應(yīng)用
參考文獻(xiàn)