微電子學(xué)：Verilog高級數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計技術(shù)與實例分析

第1章 緒論
第2章 寄存器傳輸語言（RTL）
第3章 可綜合的Verilog――用于電路設(shè)計
3．1 什么是Verilog
3．2 Verilog的發(fā)展歷史
3．3 Verilog的結(jié)構(gòu)
3．4 硬件RTL代碼的執(zhí)行
3．5 Verilog模塊分析
3．6 Verilog中的觸發(fā)器
3．6．1 帶RST復(fù)位引腳的觸發(fā)器
3．6．2 沒有復(fù)位引腳的觸發(fā)器
3．7 組合邏輯
3．7．1 always塊語句
3．7．2 case和if-else語句
3．7．3 賦值語句
3．8 Verilog操作符
3．8．1 操作符描述
3．8．2 操作符的執(zhí)行順序
3．8．3 Verilog中的注釋
3．9 可重用和模塊化設(shè)計
3．9．1 參數(shù)化設(shè)計
3．9．2 Verilog函數(shù)
3．9．3 Verilog中的generate結(jié)構(gòu)
3．9．4 Verilog中的`ifdef
3．9．5 數(shù)組、多維數(shù)組
第4章 用于驗證的Verilog語法
4．1 Verilog的測試平臺
4．2 initial語句
4．3 Verilog 系統(tǒng)任務(wù)
4．3．1 $finish/$stop
4．3．2 $display/$monitor
4．3．3 $time，$realtime
4．3．4 $random/$random（seed）
4．3．5 $save
4．3．6 $readmemh/$writememh
4．3．7 $fopen/$fclose
4．4 任務(wù)
4．5 存儲器建模
4．6 其他Verilog語法結(jié)構(gòu)
4．6．1 while循環(huán)
4．6．2 for循環(huán)、repeat
4．6．3 force/release
4．6．4 fork / join
4．7 一個簡單的testbench
第5章 數(shù)字電路設(shè)計――初級篇
5．1 組合邏輯門
5．1．1 邏輯1和邏輯0
5．1．2 真值表
5．1．3 晶體管
5．1．4 反相器
5．1．5 與門
5．1．6 或門
5．1．7 與非門
5．1．8 或非門
5．1．9 XOR（異或）、XNOR（異或非）
5．1．10 緩沖門
5．1．11 復(fù)用器
5．1．12 通用邏輯門――NAND、NOR
5．1．13 復(fù)雜門電路
5．1．14 噪聲容限
5．1．15 扇入和扇出
5．2 德摩根定理
5．3 通用D觸發(fā)器
5．3．1 D觸發(fā)器時序圖
5．4 建立和保持時間
5．4．1 建立時間
5．4．2 保持時間
5．4．3 亞穩(wěn)態(tài)
5．5 單比特信號同步
5．5．1 兩個觸發(fā)器構(gòu)成的同步器
5．5．2 信號同步規(guī)則
5．6 關(guān)于時序
5．7 事件/邊沿檢測
5．7．1 同步上升沿檢測
5．7．2 同步下降沿檢測
5．7．3 同步上升/下降沿檢測
5．7．4 異步輸入上升沿檢測
5．8 數(shù)值系統(tǒng)
5．8．1 十進制數(shù)值系統(tǒng)
5．8．2 二進制數(shù)
5．8．3 十進制數(shù)到二進制數(shù)的轉(zhuǎn)換
5．8．4 十六進制數(shù)值系統(tǒng)
5．8．5 十六進制數(shù)和二進制數(shù)的轉(zhuǎn)換
5．9 加法和減法
5．9．1 行波進位加法器
5．9．2 超前進位加法
5．9．3 累加器
5．10 乘和除
5．10．1 乘以一個常數(shù)
5．10．2 除以常數(shù)（2的整數(shù)次冪）
5．11 計數(shù)器
5．11．1 加法/減法計數(shù)器
5．11．2 LFSR（線性反饋移位寄存器）計數(shù)器
第6章 數(shù)字設(shè)計――基礎(chǔ)模塊
6．1 LFSR
6．1．1 引言
6．1．2 斐波那契LFSR與伽羅瓦LFSR
6．1．3 LFSR反饋多項式
6．1．4 LFSR的用法
6．2 擾碼與解擾
6．2．1 什么是擾碼與解擾
6．2．2 擾碼的作用
6．2．3 串行擾碼器
6．2．4 并行擾碼器
6．2．5 擾碼電路設(shè)計要點
6．2．6 PCIe擾碼電路
6．2．7 Verilog RTL-PCIe擾碼器
6．3 檢錯與糾錯
6．3．1 檢錯
6．3．2 錯誤糾正
6．3．3 糾錯編碼
6．3．4 漢明碼
6．3．5 漢明碼應(yīng)用舉例――DDR ECC
6．3．6 BCH編碼
6．3．7 里德-所羅門編碼
6．3．8 LDPC編碼
6．3．9 卷積碼
6．3．10 卷積譯碼
6．3．11 軟判決與硬判決
6．4 奇偶校驗
6．4．1 偶校驗和奇校驗
6．4．2 奇偶校驗位的生成
6．4．3 奇偶校驗的應(yīng)用
6．5 CRC（循環(huán)冗余校驗）
6．5．1 CRC介紹
6．5．2 串行CRC計算
6．5．3 并行CRC計算
6．5．4 部分數(shù)據(jù)CRC計算
6．5．5 常用CRC類型
6．6 格雷編碼/解碼
6．6．1 二進制碼轉(zhuǎn)換為格雷編碼的通用電路
6．6．2 格雷碼轉(zhuǎn)換為二進制碼的通用電路
6．7 譯碼器（7段數(shù)碼顯示實例）
6．8 優(yōu)先級編碼
6．8．1 常規(guī)編碼器的Verilog 代碼
6．8．2 優(yōu)先級編碼器的Verilog代碼
6．9 8b/10b編碼/解碼
6．9．1 8b/10b編碼方式
6．9．2 多字節(jié)8b/10b編碼
6．9．3 disparity選擇8b/10b編碼方案
6．10 64b/66b編碼/解碼
6．10．1 64b/66b編碼機制
6．10．2 128b/130b編碼機制
6．11 NRZ、NRZI編碼
6．12 移位寄存器與桶形移位器
6．12．1 左移位與右移位
6．12．2 左循環(huán)移位與右循環(huán)移位
6．12．3 桶形移位器
6．13 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器
6．13．1 由寬到窄數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換
6．13．2 由窄到寬數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換
6．14 同步技術(shù)
6．14．1 使用FIFO進行的數(shù)據(jù)同步
6．14．2 握手同步方式
6．14．3 脈沖同步器
6．14．4 相位、頻率關(guān)系固定時的跨時鐘域數(shù)據(jù)傳輸
6．14．5 準(zhǔn)同步時鐘域
6．15 計時（微秒、毫秒和秒）脈沖的產(chǎn)生
6．16 波形整形電路
第7章 數(shù)字設(shè)計先進概念（第1部分）
7．1 時鐘
7．1．1 頻率和時鐘周期
7．1．2 不同的時鐘機制
7．1．3 同步時鐘
7．1．4 源同步時鐘
7．1．5 嵌入式時鐘
7．1．6 準(zhǔn)同步時鐘
7．1．7 異步系統(tǒng)
7．1．8 擴頻時鐘
7．1．9 時鐘抖動
7．2 復(fù)位方法
7．2．1 非同步復(fù)位（異步復(fù)位）
7．2．2 復(fù)位同步電路
7．2．3 同步復(fù)位
7．2．4 異步復(fù)位和同步復(fù)位的選擇
7．3 吞吐率
7．3．1 增加吞吐率的方法
7．3．2 更高的頻率
7．3．3 更寬的數(shù)據(jù)通道
7．3．4 流水線
7．3．5 并行處理
7．3．6 無序執(zhí)行（亂序執(zhí)行）
7．3．7 高速緩存（cache）
7．3．8 預(yù)讀取
7．3．9 多核
7．4 時延
7．4．1 降低時延的方法
7．5 流控
7．5．1 介紹
7．5．2 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)：data_valid和data_ack
7．5．3 基于信用的流控：PCIe
7．5．4 SATA流控機制
7．5．5 吉比特以太網(wǎng)流控
7．5．6 TCP滑動窗流控機制
7．6 流水線操作
7．6．1 流水線介紹
7．6．2 流水線的簡單實例
7．6．3 RISC――流水線處理器
7．6．4 流水線結(jié)構(gòu)和并行操作
7．6．5 流水線加法器
7．6．6 并行加法器
7．6．7 系統(tǒng)設(shè)計中的流水線
7．7 out-of-order執(zhí)行（亂序執(zhí)行）
7．7．1 現(xiàn)代處理器：out-of-order執(zhí)行
7．7．2 SATA NCQ：out-of-order執(zhí)行
第8章 數(shù)字設(shè)計先進概念（第2部分）
8．1 狀態(tài)機
8．1．1 引言
8．1．2 狀態(tài)機泡泡圖
8．1．3 狀態(tài)機：推薦方式
8．1．4 二進制編碼的狀態(tài)機
8．1．5 獨熱碼編碼的狀態(tài)機
8．1．6 二進制編碼和獨熱碼比較
8．1．7 米里型和摩爾型狀態(tài)機
8．1．8 子狀態(tài)機
8．2 FIFO
8．2．1 引言
8．2．2 FIFO操作
8．2．3 同步FIFO
8．2．4 同步FIFO
8．2．5 異步FIFO的工作機制
8．2．6 異步FIFO的實現(xiàn)
8．3 FIFO高級原理
8．3．1 FIFO的大小
8．3．2 FIFO的深度
8．3．3 輔助數(shù)據(jù)或標(biāo)簽
8．3．4 快照/回退操作
8．3．5 直通交換和存儲轉(zhuǎn)發(fā)模式
8．3．6 FIFO指針復(fù)位
8．3．7 不同的寫入、讀取數(shù)據(jù)寬度
8．3．8 使用FIFO的缺點
8．3．9 基于觸發(fā)器或者SRAM的FIFO
8．4 仲裁
8．4．1 關(guān)于仲裁
8．4．2 常規(guī)仲裁方案
8．4．3 嚴(yán)格優(yōu)先級輪詢
8．4．4 公平輪詢
8．4．5 公平輪詢（仲裁w/o死周期）
8．4．6 帶權(quán)重的輪詢（WRR）
8．4．7 權(quán)重輪詢（WRR）：第二種方法
8．4．8 兩組輪詢
8．5 總線接口
8．5．1 總線仲裁
8．5．2 split-transaction（分割處理）總線
8．5．3 流水線式總線
8．6 鏈表
8．7 近期最少使用（LRU）算法
8．7．1 LRU的矩陣實現(xiàn)
8．7．2 采用矩陣法實現(xiàn)LRU的Verilog代碼
第9章 設(shè)計ASIC/SoC
9．1 設(shè)計芯片――如何開展
9．2 結(jié)構(gòu)和微結(jié)構(gòu)
9．2．1 盡可能保持簡單
9．2．2 善于平衡
9．2．3 處理好錯誤和異常
9．3 數(shù)據(jù)路徑
9．3．1 數(shù)據(jù)流
9．3．2 時鐘
9．4 控制單元
9．4．1 關(guān)注邊界條件
9．4．2 注意細節(jié)
9．4．3 多輸入點
9．4．4 正確理解規(guī)范
9．5 其他考慮
9．5．1 門數(shù)
9．5．2 焊盤受限與內(nèi)核受限
9．5．3 時鐘樹和復(fù)位樹
9．5．4 EEPROM、配置引腳
第10章 設(shè)計經(jīng)驗
10．1 文檔
10．1．1 可讀性
10．1．2 注釋
10．1．3 命名規(guī)則
10．2 在編寫第一行代碼之前
10．2．1 直到你腦海里有了藍圖才開始
10．2．2 腦海中的模擬
10．3 一些建議
10．3．1 哪種風(fēng)格――數(shù)據(jù)流或算法
10．3．2 寄存器型輸出
10．3．3 使用狀態(tài)機而不是松散的控制邏輯
10．3．4 綜合和仿真不匹配
10．3．5 設(shè)計的模塊化和參數(shù)化
10．3．6 加法器、減法器的有效使用
10．4 需要避免的情況
10．4．1 不要形成組合邏輯環(huán)路
10．4．2 避免意外生成鎖存器
10．4．3 不要采用基于延遲的設(shè)計
10．4．4 不要對一個變量多次賦值
10．5 初步完成RTL代碼之后
10．5．1 初步完成代碼之后的回顧
10．5．2 目測RTL代碼
10．5．3 對發(fā)現(xiàn)bug感到驚喜
10．6 設(shè)計要面向未來使用需求
10．6．1 易于實現(xiàn)的寄存器結(jié)構(gòu)
10．6．2 考慮將來需求
10．7 高速設(shè)計
10．7．1 使用獨熱碼進行狀態(tài)編碼
10．7．2 使用互斥的數(shù)據(jù)選擇器而不是優(yōu)先級編碼器
10．7．3 避免大量散亂的組合邏輯電路
10．7．4 復(fù)制或克隆
10．7．5 使用同步復(fù)位時要小心
10．7．6 將后到的信號放在邏輯的前面
10．8 SoC設(shè)計經(jīng)驗
10．8．1 使用雙觸發(fā)器同步電路
10．8．2 將所有復(fù)位電路放在一起
第11章 系統(tǒng)概念（第1部分）
11．1 PC系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
11．2 存儲器
11．2．1 存儲器層次結(jié)構(gòu)
11．2．2 CPU使用高速緩存的方法
11．2．3 cache的架構(gòu)
11．2．4 cache的組織方式
11．2．5 虛擬存儲器（Virtual Memory）
11．2．6 動態(tài)隨機訪問存儲器（DRAM）
11．2．7 靜態(tài)隨機訪問存儲器（SRAM）
11．2．8 內(nèi)容可尋址存儲器（CAM）
11．2．9 CAM的Verilog模型
11．2．10 ROM、PROM、EPROM和EEPROM
11．2．11 閃存
11．3 中斷
11．3．1 中斷不同部分
11．3．2 中斷向量表
11．3．3 I/O設(shè)備產(chǎn)生的中斷
11．3．4 高級可編程中斷控制器
11．3．5 INTx中斷共享
11．3．6 MSI中斷
11．3．7 MSI-X中斷
11．3．8 中斷聚合
11．3．9 中斷產(chǎn)生的RTL示例
11．4 PIO（Programmed IO）模式的數(shù)據(jù)傳送
11．5 直接存儲器訪問
11．5．1 什么是DMA
11．5．2 第三方、第一方DMA和RDMA
11．5．3 分/集式DMA
11．5．4 DMA描述符
11．5．5 環(huán)形描述符結(jié)構(gòu)
11．5．6 鏈表描述符結(jié)構(gòu)
11．5．7 DMA控制器的設(shè)計
11．5．8 DMA控制器的Verilog RTL模型
第12章 系統(tǒng)概念（第2部分）
12．1 永久存儲器――硬盤
12．1．1 磁盤結(jié)構(gòu)
12．1．2 磁盤尋址
12．1．3 硬盤控制器
12．1．4 硬盤的類型：SATA硬盤和基于SAS的硬盤
12．1．5 RAID（獨立磁盤冗余陣列）
12．2 永久存儲設(shè)備――固態(tài)盤
12．2．1 閃存的組織
12．2．2 閃存寫入、擦除
12．2．3 邏輯地址到物理地址的轉(zhuǎn)換
12．2．4 無用存儲空間回收
12．2．5 耗損均衡
12．2．6 寫放大及其緩解方法
12．2．7 超量供給
12．2．8 SSD中的高速緩存
12．2．9 ECC和RAID
12．2．10 閃存的一些重要指標(biāo)
12．2．11 NVM總線
12．3 DDR存儲器
12．3．1 DDR存儲器命令
12．3．2 DDR的初始化和校準(zhǔn)
12．3．3 DDR存儲器術(shù)語
12．4 軟硬件協(xié)同
12．4．1 設(shè)備驅(qū)動
12．4．2 軟件層
12．4．3 BIOS
12．4．4 內(nèi)核模式和用戶模式
12．4．5 控制/狀態(tài)寄存器、RO、粘著位
第13章 嵌入式系統(tǒng)13．1 AMBA總線架構(gòu)
13．1．1 AMBA模塊圖
13．1．2 AHB總線
13．1．3 AXI總線
13．2 其他總線（OCP、Avalon、Wishbone和IBM Core Connect）
13．3 非透明橋接
第14章 ASIC/SoC的可測試性
14．1 簡介
14．1．1 為什么測試很重要
14．1．2 故障類型
14．2 ATPG
14．3 掃描
14．3．1 內(nèi)部掃描
14．3．2 邊界掃描
14．3．3 IDDQ測試
14．4 SoC測試策略
14．4．1 SoC的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
14．4．2 可測性設(shè)計（DFT）
14．4．3 DFT設(shè)計準(zhǔn)則
14．4．4 測試層面和測試向量
第15章 芯片開發(fā)流程與工具
15．1 簡介
15．1．1 芯片設(shè)計的不同階段
15．2 前端設(shè)計過程所使用的工具
15．2．1 代碼分析工具
15．2．2 仿真工具
15．3 后端設(shè)計過程使用的工具
15．3．1 綜合工具
15．3．2 靜態(tài)定時分析及常用工具
15．3．3 SDC約束文件
15．3．4 Max Cap/Maxtrans檢查
15．3．5 門級仿真
15．4 tape-out 和相關(guān)工具
15．4．1 不同類型的tape-out
15．4．2 等效性檢查
15．4．3 網(wǎng)表ECO
15．4．4 FIB操作
15．5 在硅片調(diào)試
第16章 功率節(jié)約技術(shù)
16．1 簡介
16．2 功耗分析基礎(chǔ)
16．3 通過控制工作頻率降低功耗
16．3．1 降低頻率、增大數(shù)據(jù)路徑寬度
16．3．2 動態(tài)頻率調(diào)整
16．3．3 零頻率/門控時鐘
16．4 減少電容負載
16．5 降低工作電壓
16．5．1 動態(tài)改變工作電壓
16．5．2 零操作電壓
16．5．3 電源阱與隔離
第17章 功率管理
17．1 功率管理的基礎(chǔ)知識
17．2 系統(tǒng)級功率管理與ACPI
17．3 CPU功率狀態(tài)――C狀態(tài)
17．4 設(shè)備級功率管理與D狀態(tài)
17．5 系統(tǒng)、設(shè)備和鏈路間的關(guān)系
第18章 串行總線技術(shù)
18．1 串行總線結(jié)構(gòu)
18．1．1 串行總線的出現(xiàn)
18．1．2 串行總線的優(yōu)缺點
18．1．3 串行總線結(jié)構(gòu)
18．1．4 串行總線時鐘
18．1．5 發(fā)送路徑的微結(jié)構(gòu)
18．1．6 接收路徑的微結(jié)構(gòu)
18．2 串行總線中的先進設(shè)計理念
18．2．1 字節(jié)分割/鏈路聚合
18．2．2 通道綁定與去偏移
18．2．3 極性翻轉(zhuǎn)
18．2．4 線路翻轉(zhuǎn)
18．2．5 鎖相環(huán)（PLL）
18．3 串行總線的PMA層功能
18．3．1 發(fā)送均衡
18．3．2 接收均衡
18．3．3 端接電阻
第19章 串行協(xié)議（第1部分）
19．1 PCIe
19．1．1 PCIe功能特性
19．1．2 PCIe帶寬
19．1．3 PCIe交換結(jié)構(gòu)
19．1．4 PCIe配置空間寄存器
19．1．5 PCIe的交換機制
19．2 SATA
19．2．1 引言
19．2．2 SATA架構(gòu)
19．2．3 SATA的其他變種
19．3 通用串行總線
19．3．1 引言
19．3．2 全速、高速和超高速USB
19．3．3 USB的顯著功能特性
19．3．4 USB 3．0（超高速USB）
19．4 雷電接口
19．4．1 雷電接口介紹
19．4．2 雷電接口架構(gòu)
第20章 串行協(xié)議（第2部分）
20．1 以太網(wǎng)簡介
20．2 OSI和以太網(wǎng)協(xié)議層次
20．3 以太網(wǎng)幀格式
20．4 10 Mbps以太網(wǎng)
20．5 快速以太網(wǎng)（100 Mbps）
20．6 千兆位以太網(wǎng)（1 Gbps）
20．7 萬兆位以太網(wǎng)（10 Gbps）
20．8 40 G和100 G以太網(wǎng)
20．9 以太網(wǎng)橋接器、交換機與路由器
附錄A 資源
附錄B FPGA 101
附錄C 用于驗證的測試平臺（testbench）
附錄D System Verilog斷言（SVA）
縮略詞