基于數(shù)據(jù)挖掘的軟件缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)

定　價(jià)：￥35.00

作　者：	馬櫻著
出版社：	廈門大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

購(gòu)買這本書可以去

ISBN：	9787561562833	出版時(shí)間：	2018-06-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：	164	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本專著主要基于軟件領(lǐng)域數(shù)據(jù)的特性和預(yù)測(cè)模型的不同應(yīng)用場(chǎng)景，對(duì)軟件缺陷預(yù)測(cè)前言的若干關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了研究和總結(jié)。主要內(nèi)容包括遷移學(xué) 習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)，半監(jiān)督環(huán)境下的缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)，主動(dòng)學(xué)習(xí)環(huán)境下的缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)，基于核理論的缺陷預(yù)測(cè)技術(shù)，所應(yīng)用的理論、算法及應(yīng)用成果的介紹和展示。