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弱磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

弱磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

定　價(jià)：￥88.00

作　者： 于潤(rùn)橋，胡博 著
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺

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ISBN： 9787030592224 出版時(shí)間： 2018-11-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 32開(kāi) 頁(yè)數(shù)： 208 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　弱磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一種基于材料磁特性、磁敏傳感器、磁效應(yīng)現(xiàn)象、磁信號(hào)處理技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)等發(fā)展起來(lái)的磁法無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。本書(shū)主要內(nèi)容包括弱磁無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)及發(fā)展趨勢(shì)，弱磁無(wú)損檢測(cè)的基本理論，弱磁檢測(cè)儀器的研制思路，以及鐵磁性金屬材料、非鐵磁性金屬材料和非金屬材料弱磁無(wú)損檢測(cè)的相關(guān)案例等。

作者簡(jiǎn)介

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