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當前位置: 首頁出版圖書科學技術(shù)工業(yè)技術(shù)無線電電子學、電信技術(shù)抗輻射雙極器件加固導論

抗輻射雙極器件加固導論

抗輻射雙極器件加固導論

定 價:¥58.00

作 者: 李興冀,楊劍群 著
出版社: 哈爾濱工業(yè)大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

ISBN: 9787560364674 出版時間: 2019-01-01 包裝: 平裝
開本: 16 頁數(shù): 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書從我國宇航用電子元器件實際需要出發(fā),總結(jié)作者多年的研究成果,論述了雙極工藝器件輻射損傷效應的基本特征和微觀機制,提出了雙極工藝器件抗輻射加固原理與技術(shù)研究的基本思路,涉及半導體物理與器件基礎(chǔ)、空間帶電粒子輻射環(huán)境表征、雙極器件電離輻射損傷效應、雙極器件位移損傷效應、雙極器件電離/位移協(xié)同效應、雙極器件抗輻射加固相關(guān)問題及雙極器件輻射損傷效應評價方法等內(nèi)容,可供從事宇航用電子元器件科研和生產(chǎn)的科技人員以及高等院校相關(guān)專業(yè)師生參考。

作者簡介

暫缺《抗輻射雙極器件加固導論》作者簡介

圖書目錄

目錄
第1章 半導體物理與器件基礎(chǔ)
1.1概述
1.2平衡半導體
1.3載流子輸運現(xiàn)象
1.4非平衡載流子
1.5雙極晶體管基本原理
1.6雙極晶體管類型
1.7雙極晶體管電性能及缺陷分析測試方法
本章參考文獻
第2章空間帶電粒子輻射環(huán)境表征
2.1概述
2.2太陽活動對空間帶電粒子環(huán)境的影響
2.3地球輻射帶粒子環(huán)境
2.4銀河宇宙線粒子環(huán)境
2.5太陽宇宙線粒子環(huán)境
2.6近地軌道帶電粒子能譜計算
2.7帶電粒子輻射損傷能力判據(jù)
本章參考文獻
第3章 雙極器件電離輻射損傷效應
3.1概述
3.2雙極器件電離損傷效應基本特征
3.3雙極器件電離損傷缺陷表征
3.4雙極器件電離損傷影響因素
3.5電離輻射缺陷產(chǎn)生過程
3.6雙極晶體管電離損傷相關(guān)問題
本章參考文獻
第4章雙極器件位移損傷效應
4.1概述
4.2位移輻射損傷效應基本特征
4.3雙極器件位移缺陷表征及演化
4.4位移損傷影響因素
4.5位移損傷效應機理
本章參考文獻
第5章雙極器件電離/位移協(xié)同效應
5.1概述
5.2電離/位移協(xié)同效應基本特征
5.3輻射損傷缺陷特征
5.4輻射損傷機理
本章參考文獻
第6章雙極器件抗輻射加固相關(guān)問題
6.1引言
6.2雙極器件輻射損傷敏感部位界定
6.3抗輻射雙極器件工藝優(yōu)化
6.4抗輻射雙極器件結(jié)構(gòu)設(shè)計準則
6.5雙極電路與晶體管損傷的關(guān)聯(lián)
6.6新型抗輻射半導體材料應用前景
本章參考文獻
第7章 雙極器件輻射損傷效應評價方法
7.1引言
7.2雙極器件輻射損傷模擬實驗方法
7.3低劑量率增強效應地面加速試驗方法
7.4器件在軌吸收劑量計算方法
7.5器件在軌性能退化預測方法
本章參考文獻

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