電子測(cè)量原理簡(jiǎn)明教程

前言
第1章電子測(cè)量總論1
11概述1
111測(cè)量的基本概念1
112電子測(cè)量的意義4
113電子測(cè)量的定義5
114電子測(cè)量的特點(diǎn)6
12電子測(cè)量的原理及基本技術(shù)7
121間接比較法7
122直接比較法8
123電子測(cè)量中的變換技術(shù)10
124電子測(cè)量中的比較技術(shù)11
13電子測(cè)量的分類(lèi)12
131概述12
132有源量(信號(hào))測(cè)量和無(wú)源量
(系統(tǒng))測(cè)量13
133靜態(tài)、穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)測(cè)量14
134時(shí)域、頻域和時(shí)頻域測(cè)量16
135直接測(cè)量、間接測(cè)量和組合
測(cè)量17
136模擬量測(cè)量和數(shù)字量
測(cè)量18
14本書(shū)的結(jié)構(gòu)及內(nèi)容20
141本書(shū)的體系結(jié)構(gòu)20
142信號(hào)的基本概念和信號(hào)
測(cè)量的內(nèi)容20
本章小結(jié)23
思考與練習(xí)24
第2章測(cè)量誤差及測(cè)量數(shù)據(jù)處理25
21測(cè)量誤差概述25
211測(cè)量誤差的基本概念25
212測(cè)量誤差的表示方法26
213測(cè)量誤差的分類(lèi)30
214測(cè)量誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響31
22系統(tǒng)誤差的分析和處理32
221系統(tǒng)誤差的特征32
222系統(tǒng)誤差的發(fā)現(xiàn)方法33
223系統(tǒng)誤差的削弱或消除方法34
23隨機(jī)誤差的分析與處理37
231隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)特性37
232有限次測(cè)量的數(shù)學(xué)期望和標(biāo)準(zhǔn)偏差的
估計(jì)值42
233測(cè)量結(jié)果的置信度45
24粗大誤差的判斷與處理49
241粗大誤差的特性49
242粗大誤差的判斷49
243粗大誤差的防止和剔除50
25測(cè)量數(shù)據(jù)處理51
251等精度測(cè)量的數(shù)據(jù)處理51
252測(cè)量誤差的合成53
253測(cè)量結(jié)果的處理與表達(dá)——
有效數(shù)字55
本章小結(jié)57
思考與練習(xí)58
第3章信號(hào)的時(shí)間與頻率的測(cè)量61
31概述61
311時(shí)間和頻率的基本概念61
312時(shí)間和頻率測(cè)量的特點(diǎn)62
32頻率測(cè)量的原理與方法綜述63
321頻率測(cè)量的原理與方法分類(lèi)63
322間接比較法64
323直接比較法66
33時(shí)間(頻率)的數(shù)字化測(cè)量及
電子計(jì)數(shù)器組成原理67
331時(shí)間和頻率的數(shù)字化測(cè)量
原理67
332電子計(jì)數(shù)器的組成原理68
333電子計(jì)數(shù)器的分類(lèi)及主要技術(shù)
指標(biāo)71
34通用計(jì)數(shù)器的測(cè)試功能71
341通用計(jì)數(shù)器的基本功能71
342自檢72
343頻率測(cè)量73
344周期測(cè)量73
345頻率比的測(cè)量73
346時(shí)間間隔的測(cè)量74
347外控時(shí)間間隔的測(cè)量77
348累加計(jì)數(shù)77
349計(jì)時(shí)77


35時(shí)間和頻率的測(cè)量誤差77
351測(cè)量誤差的來(lái)源77
352測(cè)量誤差的分析82
36等精度電子計(jì)數(shù)器85
361多周期同步測(cè)量原理85
362等精度電子計(jì)數(shù)器的
測(cè)量功能86
37高分辨力的時(shí)間測(cè)量技術(shù)89
371模擬內(nèi)插法89
372時(shí)間-電壓變換法91
373時(shí)延法91
本章小結(jié)92
思考與練習(xí)93
第4章信號(hào)幅度的測(cè)量96
41概述96
411信號(hào)幅度測(cè)量的意義和
特點(diǎn)96
412電壓測(cè)量的方法和分類(lèi)97
42交流電壓的模擬式測(cè)量99
421交流電壓的特征參量99
422交流-直流(AC-DC)轉(zhuǎn)換器的
原理101
423模擬式交流電壓表103
424交流電壓表的響應(yīng)特性及誤差
分析105
425交流電壓的模擬式測(cè)量小結(jié)108
43電壓的數(shù)字化測(cè)量109
431電壓-數(shù)字轉(zhuǎn)換的原理和
分類(lèi)109
432A-D轉(zhuǎn)換器的原理111
44數(shù)字電壓表(DVM)和數(shù)字
多用表(DMM)114
441數(shù)字電壓表的組成及結(jié)構(gòu)114
442數(shù)字多用表的組成及結(jié)構(gòu)115
443數(shù)字電壓表和數(shù)字多用表的
主要性能指標(biāo)117
45數(shù)字電壓表的誤差分析及自動(dòng)校準(zhǔn)
技術(shù)119
451數(shù)字電壓表的誤差分析119
452數(shù)字電壓表中的自動(dòng)校準(zhǔn)
技術(shù)122
453數(shù)字電壓表中的自動(dòng)量程
技術(shù)124
本章小結(jié)125
思考與練習(xí)126
第5章信號(hào)波形的測(cè)量129
51概述129
511波形測(cè)量與顯示129
512示波器的分類(lèi)130
513示波器的發(fā)展130
52模擬示波器131
521波形顯示器件CRT131
522CRT波形顯示的基本原理132
523通用示波器的基本組成133
53數(shù)字存儲(chǔ)示波器的原理與組成135
531波形數(shù)字化的原理135
532現(xiàn)代數(shù)字示波器的一般
組成136
533波形數(shù)字化測(cè)量的特點(diǎn)137
54DSO的主要技術(shù)指標(biāo)139
541采樣速率和水平分辨力139
542掃描速度與時(shí)基因數(shù)140
543頻帶寬度BW140
544記錄長(zhǎng)度L142
545偏轉(zhuǎn)靈敏度、偏轉(zhuǎn)因數(shù)和垂直
分辨力142
546屏幕刷新率143
55波形的采集143
551采樣原理和采樣方式143
552高速A-D轉(zhuǎn)換技術(shù)147
56波形的存儲(chǔ)150
561存儲(chǔ)器的作用和結(jié)構(gòu)150
562存儲(chǔ)器的容量151
563存儲(chǔ)器的降速技術(shù)152
57觸發(fā)系統(tǒng)153
571觸發(fā)系統(tǒng)的組成153
572觸發(fā)點(diǎn)的確定——觸發(fā)
方式155
573觀察窗口的定位——觸發(fā)
模式157
58時(shí)基系統(tǒng)159
581時(shí)基的選擇159
582實(shí)時(shí)采樣方式的時(shí)基電路160
583隨機(jī)采樣方式的時(shí)基電路162
59波形的顯示與處理164
591數(shù)字示波器顯示系統(tǒng)的
組成原理164
592顯示方式167
593波形的處理168
本章小結(jié)169
思考與練習(xí)169
第6章信號(hào)頻譜的測(cè)量172
61概述172
611信號(hào)頻譜分析的意義172
612信號(hào)的頻譜172
613常見(jiàn)信號(hào)的頻譜173
614頻譜儀的分類(lèi)176
62穩(wěn)態(tài)(周期)信號(hào)的
頻譜測(cè)量177
621掃頻式頻譜分析原理177
622外差式頻譜儀178
623超外差頻譜儀的各種功能
單元簡(jiǎn)介182
63動(dòng)態(tài)(瞬變)信號(hào)的頻譜測(cè)量186
631FFT分析儀的原理186
632全數(shù)字中頻的實(shí)時(shí)
頻譜分析187
64頻譜儀的技術(shù)指標(biāo)189
641外差式頻譜儀的主要指標(biāo)189
642FFT分析儀的主要技術(shù)指標(biāo)191
643外差式頻譜儀和FFT分析儀的
比較192
644頻譜儀各參數(shù)間的聯(lián)動(dòng)關(guān)系192
本章小結(jié)193
思考與練習(xí)194
第7章信號(hào)源196
71概述196
711信號(hào)源在系統(tǒng)測(cè)量中的
作用196
712信號(hào)源的分類(lèi)196
713信號(hào)源的主要技術(shù)指標(biāo)198
72傳統(tǒng)的信號(hào)源200
721高頻信號(hào)源200
722函數(shù)信號(hào)源201
73鎖相頻率合成信號(hào)源204
731合成信號(hào)源概述及直接模擬
合成原理204
732鎖相環(huán)的基本形式及鎖相頻率
合成的原理205
733提高頻率分辨力和擴(kuò)展頻率
上限的鎖相技術(shù)209
734鎖相合成信號(hào)源的實(shí)例分析212
74直接數(shù)字合成信號(hào)源214
741DDS信號(hào)源的基本組成原理214
742DDS的單片集成電路217
743DDS的技術(shù)指標(biāo)及特點(diǎn)218
744DDS+PLL頻率合成
信號(hào)源219
745任意波形信號(hào)源220
本章小結(jié)222
思考與練習(xí)223
第8章系統(tǒng)的測(cè)量226
81概述226
811系統(tǒng)的基本概念226
812被測(cè)系統(tǒng)的分類(lèi)227
813系統(tǒng)測(cè)量的內(nèi)容228
82電子元器件的測(cè)量229
821電子元器件的分類(lèi)及測(cè)量229
822無(wú)源元件的阻抗概述230
823阻抗測(cè)量方法概述231
824電橋法234
825電壓電流法236
826自動(dòng)平衡電橋法238
827晶體管有源器件的
參數(shù)測(cè)試23983線性系統(tǒng)特性測(cè)量242
831線性系統(tǒng)特性測(cè)量的
基本原理242
832頻率特性測(cè)量的基本
方法和儀器243
833掃頻信號(hào)源245
834掃頻儀246
835網(wǎng)絡(luò)分析儀248
本章小結(jié)253
思考與練習(xí)254
參考文獻(xiàn)256