PCB失效分析技術(shù)

　　本書內(nèi)容來自我國先進印制電路制造企業(yè)，是一群長期從事PCB失效分析的資深工程師的經(jīng)驗總結(jié)。作者以常見失效模式為切入點，針對分層起泡、可焊性不良、鍵合不良、導通不良和絕緣不良等，歸納出了失效機理、失效分析思路、失效分析案例?！禕R》全書共8章，主要內(nèi)容包括常用分析技術(shù)、PCB分層失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金線鍵合失效分析、PCB導通失效分析、PCB絕緣失效分析、孔環(huán)裂紋失效分析案例和燒板失效分析案例。

暫缺《PCB失效分析技術(shù)》作者簡介