導(dǎo)引頭通用測(cè)試基礎(chǔ)手冊(cè)

定　價(jià)：￥148.00

作　者：	李陟等
出版社：	國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

購(gòu)買(mǎi)這本書(shū)可以去

ISBN：	9787118114805	出版時(shí)間：	2018-01-01	包裝：
開(kāi)本：		頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《導(dǎo)引頭通用測(cè)試基礎(chǔ)手冊(cè)》從測(cè)試試驗(yàn)角度出發(fā)，以武器裝備預(yù)先研究領(lǐng)域制導(dǎo)共性技術(shù)所研究的導(dǎo)引頭整機(jī)系統(tǒng)、導(dǎo)引頭信息處理機(jī)為對(duì)象，系統(tǒng)闡述其測(cè)試規(guī)范和名詞術(shù)語(yǔ)表述?！秾?dǎo)引頭通用測(cè)試基礎(chǔ)手冊(cè)》共分5章。首先按照不同類(lèi)別介紹光學(xué)導(dǎo)引頭、射頻導(dǎo)引頭、雷達(dá)景象匹配導(dǎo)引頭、光電復(fù)合導(dǎo)引頭等的測(cè)試規(guī)范，并在相應(yīng)章節(jié)中按照測(cè)試試驗(yàn)層次順序介紹單機(jī)性能測(cè)試、半實(shí)物仿真、外場(chǎng)靜態(tài)跟蹤和外場(chǎng)動(dòng)態(tài)掛飛等試驗(yàn)中導(dǎo)引頭測(cè)試原理、條件、設(shè)備和方法。然后在導(dǎo)引頭信息處理機(jī)測(cè)試規(guī)范中，按照硬件、軟件和算法介紹不同模塊的測(cè)試原理、條件、設(shè)備和方法。*后在附錄中補(bǔ)充說(shuō)明導(dǎo)引頭、信息處理機(jī)測(cè)試指標(biāo)表、各類(lèi)常用名詞術(shù)語(yǔ)等內(nèi)容?！秾?dǎo)引頭通用測(cè)試基礎(chǔ)手冊(cè)》可供制導(dǎo)共性技術(shù)領(lǐng)域?qū)б^規(guī)劃設(shè)計(jì)、試驗(yàn)驗(yàn)證和測(cè)試驗(yàn)收相關(guān)工作者參考，也可作為高等院校相關(guān)專(zhuān)業(yè)教師和研究生的參考書(shū)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《導(dǎo)引頭通用測(cè)試基礎(chǔ)手冊(cè)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第1章光學(xué)導(dǎo)引頭通用測(cè)試規(guī)范
1．1 范圍
1．1．1 主題內(nèi)容
1．1．2 適用范圍
1．2 測(cè)試規(guī)范
1．2．1 單機(jī)性能測(cè)試
1．2．2 半實(shí)物仿真試驗(yàn)
1．2．3 外場(chǎng)靜態(tài)跟蹤試驗(yàn)
1．2．4 外場(chǎng)動(dòng)態(tài)掛飛試驗(yàn)
第2章射頻導(dǎo)引頭通用測(cè)試規(guī)范
2．1 范圍
2．1．1 主題內(nèi)容
2．1．2 適用范圍
2．2 測(cè)試規(guī)范
2．2．1 單機(jī)性能測(cè)試
2．2．2 半實(shí)物仿真試驗(yàn)
2．2．3 外場(chǎng)靜態(tài)跟蹤試驗(yàn)
2．2．4 外場(chǎng)動(dòng)態(tài)掛飛試驗(yàn)
第3章雷達(dá)景象匹配導(dǎo)引頭通用測(cè)試規(guī)范
3．1 范圍
3．1．1 主題內(nèi)容
3．1．2 適用范圍
3．2 測(cè)試規(guī)范
3．2．1 單機(jī)性能測(cè)試
3．2．2 半實(shí)物仿真試驗(yàn)
3．2．3 外場(chǎng)靜態(tài)跟蹤試驗(yàn)
3．2．4 外場(chǎng)動(dòng)態(tài)掛飛試驗(yàn)
第4章光電復(fù)合導(dǎo)引頭通用測(cè)試規(guī)范
4．1 范圍
4．1．1 主題內(nèi)容
4．1．2 適用范圍
4．2 測(cè)試規(guī)范
4．2．1 單機(jī)性能測(cè)試
4．2．2 半實(shí)物仿真試驗(yàn)
4．2．3 外場(chǎng)靜態(tài)跟蹤試驗(yàn)
4．2．4 外場(chǎng)動(dòng)態(tài)掛飛試驗(yàn)
第5章導(dǎo)引頭信息處理機(jī)通用測(cè)試規(guī)范
5．1 范圍
5．1．1 主題內(nèi)容
5．1．2 適用范圍
5．2 測(cè)試規(guī)范
5．2．1 信息處理機(jī)硬件測(cè)試
5．2．2 信息處理機(jī)軟件測(cè)試
5．2．3 信息處理機(jī)算法測(cè)試
附錄A 導(dǎo)引頭測(cè)試指標(biāo)表
A．1 光學(xué)導(dǎo)引頭測(cè)試指標(biāo)表
A．2 射頻導(dǎo)引頭測(cè)試指標(biāo)表
A．3 雷達(dá)景象匹配導(dǎo)引頭測(cè)試指標(biāo)表
A．4 光電復(fù)合導(dǎo)引頭測(cè)試指標(biāo)表
A．5 導(dǎo)引頭信息處理機(jī)測(cè)試指標(biāo)表
附錄B 成敗型可靠性經(jīng)典置信下限表
附錄C 目標(biāo)位置參數(shù)計(jì)算方法
附錄D 導(dǎo)引頭環(huán)境試驗(yàn)
D．1 范圍
D．2 試驗(yàn)條件
D．3 試驗(yàn)項(xiàng)目及方法
附錄E 精確制導(dǎo)技術(shù)常用名詞術(shù)語(yǔ)
參考文獻(xiàn)