開(kāi)發(fā)者測(cè)試

前　言
第1章　開(kāi)發(fā)者測(cè)試概述 1
1.1　開(kāi)發(fā)者與軟件測(cè)試 1
1.1.1　測(cè)試和調(diào)試 1
1.1.2　開(kāi)發(fā)者測(cè)試 3
1.1.3　PIE模型 4
1.2　開(kāi)發(fā)者測(cè)試方法與技術(shù) 6
1.2.1　靜態(tài)測(cè)試與動(dòng)態(tài)測(cè)試 6
1.2.2　黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試 8
1.2.3　失效重現(xiàn) 9
1.3　開(kāi)發(fā)者測(cè)試工具 9
1.3.1　靜態(tài)測(cè)試掃描工具 9
1.3.2　測(cè)試覆蓋分析工具 12
1.4　開(kāi)發(fā)者測(cè)試趨勢(shì) 14
1.4.1　軟件開(kāi)發(fā)和運(yùn)營(yíng)困境 14
1.4.2　DevOps介紹 16
1.4.3　DevOps中的開(kāi)發(fā)者測(cè)試 17
1.5　慕測(cè)開(kāi)發(fā)者測(cè)試 19
1.6　小結(jié) 27
習(xí)題1 28
第2章　程序靜態(tài)分析 29
2.1　程序靜態(tài)分析概述 29
2.1.1　代碼評(píng)審 30
2.1.2　結(jié)構(gòu)分析 31
2.2　程序流程分析 32
2.2.1　控制流分析 32
2.2.2　數(shù)據(jù)流分析 33
2.3　符號(hào)執(zhí)行 35
2.3.1　靜態(tài)符號(hào)執(zhí)行 36
2.3.2　動(dòng)態(tài)符號(hào)執(zhí)行 38
2.4　編程規(guī)范和規(guī)則 39
2.5　程序靜態(tài)分析工具 42
2.5.1　工具簡(jiǎn)介 42
2.5.2　工具安裝與評(píng)估 42
2.6　小結(jié) 48
習(xí)題2 48
第3章　白盒測(cè)試 50
3.1　邏輯覆蓋測(cè)試 50
3.1.1　語(yǔ)句覆蓋 52
3.1.2　分支覆蓋 54
3.1.3　條件覆蓋 56
3.1.4　條件/判定覆蓋 58
3.1.5　修正條件/判定覆蓋 61
3.1.6　條件組合覆蓋 63
3.2　路徑覆蓋測(cè)試 65
3.2.1　環(huán)復(fù)雜度 65
3.2.2　基本路徑覆蓋 66
3.2.3　主路徑覆蓋 69
3.2.4　循環(huán)結(jié)構(gòu)測(cè)試 72
3.3　小結(jié) 74
習(xí)題3 74
第4章　程序插樁與變異測(cè)試 77
4.1　程序插樁 77
4.1.1　程序插樁概述 77
4.1.2　程序插樁示例 78
4.1.3　程序插樁工具JaCoCo 79
4.2　變異測(cè)試 84
4.2.1　變異測(cè)試概述 84
4.2.2　變異測(cè)試方法 85
4.2.3　變異測(cè)試工具PITest 89
4.3　小結(jié) 91
習(xí)題4 91
第5章　單元測(cè)試 94
5.1　單元測(cè)試概述 94
5.2　單元測(cè)試框架 95
5.3　單元測(cè)試內(nèi)容 96
5.3.1　算法邏輯 96
5.3.2　模塊接口 97
5.3.3　數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu) 97
5.3.4　邊界條件 98
5.3.5　獨(dú)立路徑 98
5.3.6　錯(cuò)誤處理 99
5.3.7　輸入數(shù)據(jù) 99
5.3.8　表達(dá)式與SQL語(yǔ)句 100
5.4　慕測(cè)單元測(cè)試實(shí)例 100
5.5　小結(jié) 102
習(xí)題5 103
第6章　集成測(cè)試 105
6.1　集成測(cè)試概述 105
6.1.1　集成測(cè)試過(guò)程 106
6.1.2　集成測(cè)試缺陷類型 107
6.2　集成測(cè)試分析 110
6.3　集成測(cè)試策略 112
6.3.1　一次性集成與增量式集成 112
6.3.2　自頂向下與自底向上集成 114
6.3.3　基于調(diào)用圖的集成 117
6.3.4　其他集成測(cè)試策略 118
6.4　小結(jié) 124
習(xí)題6 124
第7章　JUnit基礎(chǔ) 127
7.1　一個(gè)JUnit實(shí)例 127
7.2　注解 132
7.3　測(cè)試類與測(cè)試方法 135
7.3.1　Assert 135
7.3.2　TestCase 139
7.3.3　TestResult 141
7.3.4　TestSuite 142
7.4　錯(cuò)誤與異常處理 143
7.4.1　錯(cuò)誤和異常 143
7.4.2　異常處理 144
7.5　批量測(cè)試 146
7.5.1　參數(shù)化測(cè)試 146
7.5.2　打包測(cè)試 149
7.6　小結(jié) 150
練習(xí)7 150
第8章　JUnit深入應(yīng)用 152
8.1　匹配器 152
8.2　JUnit測(cè)試進(jìn)階 154
8.2.1　Controller測(cè)試 154
8.2.2　Stup測(cè)試 155
8.2.3　Mock測(cè)試 159
8.2.4　Private測(cè)試 162
8.3　JUnit集成 165
8.3.1　JUnit-Ant集成 165
8.3.2　JUnit-Maven集成 169
8.4　小結(jié) 171
練習(xí)8 171
附錄　慕測(cè)科技—開(kāi)發(fā)者測(cè)試平臺(tái) 172
參考文獻(xiàn) 192