近代物理實(shí)驗(yàn)（第二版）

定　價(jià)：￥49.00

作　者：	唐明君等著
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030638892	出版時(shí)間：	2020-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	283	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《近代物理實(shí)驗(yàn)（第二版）》根據(jù)教育部高等院校物理學(xué)與天文學(xué)教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)通過的“高等理科物理學(xué)專業(yè)（四年制）近代物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)基本要求”，進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的選擇和編寫。其內(nèi)容涉及誤差理論與數(shù)據(jù)處理、原子物理實(shí)驗(yàn)、磁共振技術(shù)、真空與低溫技術(shù)、激光技術(shù)與近代光學(xué)、液晶顯示技術(shù)以及計(jì)算物理等。共分為七個(gè)章節(jié)，22個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。每個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目詳細(xì)闡述了實(shí)驗(yàn)背景、實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)儀器、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容、操作步驟以及注意事項(xiàng)等。

作者簡介

暫缺《近代物理實(shí)驗(yàn)（第二版）》作者簡介

圖書目錄

目錄
第一章誤差理論與數(shù)據(jù)處理 1
第一節(jié) 導(dǎo)論 1
第二節(jié) 測量與誤差 3
一、測量 3
二、誤差 4
三、測量不確定度 11
四、測量結(jié)果的有效數(shù)字 17
五、數(shù)據(jù)處理 19
第二章原子物理實(shí)驗(yàn) 23
實(shí)驗(yàn)1 塞曼效應(yīng) 24
實(shí)驗(yàn)2 光電效應(yīng)法測量普朗克常數(shù) 33
實(shí)驗(yàn)3 原子力顯微鏡的使用 43
實(shí)驗(yàn)4 氫(氘)原子光譜及里德伯常數(shù)的測量 49
實(shí)驗(yàn)5 巨磁電阻效應(yīng)及其應(yīng)用 56
實(shí)驗(yàn)6 密立根油滴實(shí)驗(yàn) 71
實(shí)驗(yàn)7 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn) 80
第三章磁共振技術(shù) 87
實(shí)驗(yàn)8 核磁共振 88
實(shí)驗(yàn)9 光泵磁共振 98
實(shí)驗(yàn)10 電子自旋共振 108
實(shí)驗(yàn)11 鐵磁共振 115
第四章真空與低溫技術(shù) 122
實(shí)驗(yàn)12 高溫超導(dǎo)材料特性測試 123
實(shí)驗(yàn)13 四探針法測量金屬薄膜電阻率 132
實(shí)驗(yàn)14 用橢偏儀測量薄膜的厚度和折射率 140
實(shí)驗(yàn)15 真空技術(shù)與真空鍍膜 151
實(shí)驗(yàn)16 臺(tái)階儀的使用及薄膜厚度的測量 162
第五章激光技術(shù)與近代光學(xué) 166
實(shí)驗(yàn)17 音頻信號(hào)光纖傳輸技術(shù) 167
實(shí)驗(yàn)18 光學(xué)全息照相 178
第六章液晶顯示技術(shù) 189
實(shí)驗(yàn)19 液晶器件制備 190
實(shí)驗(yàn)20 液晶器件電光效應(yīng)測試 203
第七章先進(jìn)材料計(jì)算實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì) 212
實(shí)驗(yàn)21 計(jì)算物理實(shí)驗(yàn)(第一性原理計(jì)算) 213
實(shí)驗(yàn)22 MATLAB基礎(chǔ)與數(shù)據(jù)處理實(shí)驗(yàn) 218