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集成電路開發(fā)與測試(初級)

集成電路開發(fā)與測試(初級)

定 價:¥48.00

作 者: 呂坤頤,夏 著,杭州朗迅科技有限公司 組編
出版社: 高等教育出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787040553260 出版時間: 2021-01-01 包裝: 平裝
開本: 頁數: 232 字數:  

內容簡介

  本書是1+X職業(yè)技能等級證書配套教材,對應于“集成電路開發(fā)與測試”職業(yè)技能等級證書,涵蓋初級證書相關工作領域,由版職業(yè)素養(yǎng)、晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路應用6個項目組成,針對見習流片操作員、見習外觀檢驗員、見習測試員、見習生產保障技術員等崗位涉及的工作領域和任務所需的職業(yè)技能要求介紹相關理論知識和實操內容。本書可作為“集成電路開發(fā)與測試”1+X職業(yè)技能等級證書(初級)的培訓認證教材,也可作為中職學校及高等職業(yè)院校相關實踐環(huán)節(jié)教學用書及集成電路相關行業(yè)及企業(yè)員工的崗前培訓教材,還可供工程技術人員參考使用。

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