芯想事成：集成電路的封裝與測試

定　價：￥62.00

作　者：	劉子玉著
出版社：	上海科學(xué)普及出版社
叢編項：	“芯”路叢書
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787542782786	出版時間：	2022-09-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書是“‘芯’路”叢書之一，以集成電路的封裝與測試作為主要核心內(nèi)容，介紹芯片封裝與測試的基礎(chǔ)知識和基本電路功能模塊。基于以上的基礎(chǔ)知識，進一步講解用于信息獲取、處理、存儲的核心芯片及其應(yīng)用場景，本書通過對集成電路封裝與測試領(lǐng)域的全方位介紹，讓讀者對集成電路封裝與測試的理念和技術(shù)有較為全面的了解，由此引發(fā)讀者對集成電路封裝與測試的技術(shù)發(fā)展進行深入思考，更重要的是激發(fā)起青少年讀者發(fā)奮學(xué)習(xí)，將來投身集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展，報效國家的理想與信心。

作者簡介

　　劉子玉，2018年11月入職復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院青年研究員，碩士生導(dǎo)師。2016年-2018年在香港城市大學(xué)電子系從事博士后研究，2010年-2016年清華大學(xué)微電子所攻讀博士，2006年-2010年吉林大學(xué)材料學(xué)院攻讀本科。主要從事先進封裝技術(shù)，包括2.5D/3D集成、晶圓級封裝、系統(tǒng)級的設(shè)計、工藝、仿真等，特別是在高密度互連鍵合技術(shù)、硅通孔技術(shù)、三維無源器件等方面進行了諸多創(chuàng)新性研究。目前在國內(nèi)外頂級封裝會議、期刊發(fā)表學(xué)術(shù)論文50篇，申請/授權(quán)封裝相關(guān)專利20項，目前在研的省部級以上3項，橫向項目1項，與多家國內(nèi)知名封裝企業(yè)合作。

圖書目錄

第一章芯片封裝測試的發(fā)展史——芯片的 “梳妝打扮”
封裝測試的誕生及概念
封裝的作用及重要性
封裝技術(shù)的驅(qū)動力
封裝的分類
第二章封裝工藝流程——芯片“穿衣裝扮”的順序
磨片減薄
晶圓切割
芯片貼裝
芯片鍵合/互連
塑封成型
第三章典型的框架型封裝技術(shù)——芯片的“古裝”
通孔插裝( Through Hole Packaging, THP )
表面貼裝( Surface Mount Technology, SMT)
第四章典型的基板型封裝——芯片的 “中山裝”
球柵陣列封裝(BGA)
芯片尺寸封裝(CSP)
第五章多組件系統(tǒng)級封裝——“多胞胎的混搭套裝”
多芯片組件封裝(MCM)
系統(tǒng)級封裝(SiP)
第六章三維封裝 ( 3D Packaging)——新興的“立體服飾”
三維封裝的出現(xiàn)背景
三維封裝的形式及特點
三維封裝技術(shù)的實際應(yīng)用
三維封裝的未來
第七章先進封裝技術(shù)——日新月異的“奇裝異服”
晶圓級封裝( Wafer Level Package, WLP)
芯粒技術(shù)(Chiplets)
微機電系統(tǒng)封裝
第八章封裝中的測試——“試衣找茬”
測試定義及分類
可靠性測試
參考文獻