公差配合與技術測量

定　價：￥35.00

作　者：	周京
出版社：	西安電子科技大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787560666617	出版時間：	2023-01-01	包裝：	平裝
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內(nèi)容簡介

　　本書結(jié)合新時代高職高專院校教育要求和特點，以“必備、夠用”為原則組織內(nèi)容，力求語言簡練、條理清晰、深入淺出，以任務引入與思考的方式引導相關的內(nèi)容學習，強化理論性與應用性的結(jié)合。本書共分八個項目，分別為緒論、測量技術基礎、極限與配合基礎、形狀和位置公差、光滑極限量規(guī)設計、表面粗糙度及檢測、螺紋結(jié)合的公差與檢測、圓錐的公差配合及測量。本書適合高職高專院校機械類、機電類及其他相關專業(yè)使用，也適合制造行業(yè)的工程技術人員、管理人員、操作人員閱讀參考。