抗多位翻轉低冗余存儲器加固設計及分析技術研究

第1章 緒論
1.1 課題背景及研究意義
1.2 軟錯誤及多位翻轉的產生
l.3 抗多位翻轉存儲器分析技術及加固設計研究現狀
1.4 本書主要研究內容
1.5 本書結構
第2章 存儲器多位翻轉的可靠性評估模型
2.1 概述
2.2 輻射環(huán)境的參數化建模
2.3 存儲器多位翻轉可靠性評估模型
2.4 模型驗證與分析
2.5 本章小結
第3章 低冗余的ECC構造優(yōu)化技術
3.1 概述
3.2 構造SEC-DED-DAEC碼
3.3 低誤碼率SEC-DED-DAEC碼的構造方法
3.4 奇偶校驗矩陣的搜索算法
3.5 電路實現及驗證
3.6 本章小結
第4章 二維修正碼加固技術
4.1 概述
4.2 低開銷高修正能力的二維修正碼設計
4.3 二維修正碼加固的存儲器系統(tǒng)設計
4.4 修正能力及可靠性分析
4.5 本章小結
第5章 故障安全ECC加固技術
5.1 概述
5.2 故障安全EcC碼字構造
5.3 混合碼的碼字設計
5.4 故障安全存儲器系統(tǒng)設計
5.5 修正能力及可靠性分析
5.6 本章小結
結論
參考文獻