抗多位翻轉(zhuǎn)低冗余存儲器加固設(shè)計及分析技術(shù)研究

第1章 緒論
1.1 課題背景及研究意義
1.2 軟錯誤及多位翻轉(zhuǎn)的產(chǎn)生
l.3 抗多位翻轉(zhuǎn)存儲器分析技術(shù)及加固設(shè)計研究現(xiàn)狀
1.4 本書主要研究內(nèi)容
1.5 本書結(jié)構(gòu)
第2章 存儲器多位翻轉(zhuǎn)的可靠性評估模型
2.1 概述
2.2 輻射環(huán)境的參數(shù)化建模
2.3 存儲器多位翻轉(zhuǎn)可靠性評估模型
2.4 模型驗證與分析
2.5 本章小結(jié)
第3章 低冗余的ECC構(gòu)造優(yōu)化技術(shù)
3.1 概述
3.2 構(gòu)造SEC-DED-DAEC碼
3.3 低誤碼率SEC-DED-DAEC碼的構(gòu)造方法
3.4 奇偶校驗矩陣的搜索算法
3.5 電路實現(xiàn)及驗證
3.6 本章小結(jié)
第4章 二維修正碼加固技術(shù)
4.1 概述
4.2 低開銷高修正能力的二維修正碼設(shè)計
4.3 二維修正碼加固的存儲器系統(tǒng)設(shè)計
4.4 修正能力及可靠性分析
4.5 本章小結(jié)
第5章 故障安全ECC加固技術(shù)
5.1 概述
5.2 故障安全EcC碼字構(gòu)造
5.3 混合碼的碼字設(shè)計
5.4 故障安全存儲器系統(tǒng)設(shè)計
5.5 修正能力及可靠性分析
5.6 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻