材料測試技術(shù)與分析方法（第3版）

第1章 掃描電子顯微鏡
1.1 簡介
1.2 掃描電子顯微鏡的系統(tǒng)組成
1.3 樣品的制備
1.4 掃描電子顯微鏡的基本原理與分析方法
1.5 掃描電子顯微鏡分析示例
1.6 掃描電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展
習(xí)題
知識鏈接
第2章 透射電子顯微鏡
2.1 簡介
2.2 TEM的系統(tǒng)組成及工作原理
2.3 樣品的制備技術(shù)(復(fù)型技術(shù))
2.4 應(yīng)用實(shí)例
2.5 高分辨透射電子顯微鏡簡介與應(yīng)用
習(xí)題
知識鏈接
第3章 X射線光電子能譜
3.1 簡介
3.2 XPS系統(tǒng)組成
3.3 XPS的基本原理
3.4 樣品的制備
3.5 XPS的功能
3.6 XPS的應(yīng)用與實(shí)例解析
習(xí)題
知識鏈接
第4章 俄歇電子能譜
4.1 簡介
4.2 系統(tǒng)組成
4.3 工作基本原理
4.4 樣品的制備
4.5 測試方法
4.6 AES分析方法與應(yīng)用實(shí)例習(xí)題
知識鏈接
第5章 拉曼光譜
5.1 簡介
5.2 系統(tǒng)組成
5.3 工作原理
5.4 樣品的制備
5.5 測試方法
5.6 分析方法與應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題
知識鏈接
第6章 掃描隧道電子顯微鏡
6.1 簡介
6.2 系統(tǒng)組成
6.3 基本原理
6.4 測試方法
6.5 應(yīng)用實(shí)例
習(xí)題