近代物理實驗教程（第三版）

前言
第二版前言
版序
版前言
單元0 誤差分析與數(shù)據(jù)處理
0.1 測量誤差和不確定度概念
0.2 隨機變量的概率分布
0.3 隨機誤差的統(tǒng)計分析
0.4 實驗結果的不確定度
0.5 分布規(guī)律的χ2檢驗
0.6 小二乘擬合
0.7 系統(tǒng)誤差的限制和消除
單元1 原子物理
1.1 弗蘭克-赫茲實驗
1.2 鈉原子光譜
1.3 密立根油滴實驗
1.4 塞曼效應
1.5 拉曼光譜
1.6 氫與氘原子光譜
單元2 原子核物理
2.0 核物理實驗技術基礎知識
2.1 蓋革-米勒計數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計規(guī)律
2.2 γ能譜的測量
2.3 符合測量
2.4 用快速電子驗證相對論效應
2.5 利用γ射線測量材料的吸收系數(shù)和厚度
單元3 激光、光信息處理和光學測量
3.1 He-Ne激光器特性及其參數(shù)的測量
3.2 He-Ne激光器縱模間隔測量
3.3 全息技術
3.4 光學信息處理
3.5 橢圓偏振法測量薄膜厚度、折射率和金屬復折射率
3.6 光拍頻法測量光的速度
3.7 各向異性晶體光學性質(zhì)的觀測和研究
3.8 拉曼-奈斯型聲光衍射效應
3.9 光學自成像實驗
單元4 真空技術
4.1 高真空的獲得與測量
4.2 真空鍍膜
4.3 蒸氣冷凝法制作納米顆粒
4.4 等離子體特性和參數(shù)測量
單元5 X射線衍射技術
5.0 X射線衍射的基礎知識
5.1 立方晶系點陣常數(shù)的測定
5.2 勞厄相法測定單晶取向
單元6 低溫和固體物理
6.0 低溫基礎知識
6.1 電阻溫度關系和減壓降溫技術
6.2 高溫超導體基本特性的測量
6.3 用電容-電壓法測半導體雜質(zhì)濃度分布