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內(nèi)容簡介

　　本書是普通高等教育電子科學(xué)與技術(shù)特色專業(yè)系列教材之一，主要介紹半導(dǎo)體的晶體結(jié)構(gòu)以及缺陷理論。全書的主要內(nèi)容包括晶體的性質(zhì)，晶體的構(gòu)造理論，晶體的對稱性理論，晶體的晶向和晶面，半導(dǎo)體材料及電子材料晶體結(jié)構(gòu)的特點及性質(zhì)，半導(dǎo)體中的點缺陷、線缺陷和面缺陷，以及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的表征技術(shù)。

作者簡介

　　2002至2004年于中科院長春光機與物理研究所做博士后研究

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暫缺《半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)》目錄

作　者：	張彤,李國興,徐寶琨
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

ISBN：	9787030789778	出版時間：	2025-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)

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