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表面缺陷智能檢測(cè)方法與應(yīng)用

表面缺陷智能檢測(cè)方法與應(yīng)用

定　價(jià)：￥148.00

作　者： 顏云輝,宋克臣
出版社： 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺

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ISBN： 9787030778680 出版時(shí)間： 2025-01-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 16開(kāi) 頁(yè)數(shù)： 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書是作者近年來(lái)在工業(yè)領(lǐng)域表面缺陷智能檢測(cè)方面理論研究和實(shí)際應(yīng)用技術(shù)成果的全面總結(jié)，涉及有限樣本和小樣本條件下的檢測(cè)理論和方法、人類視覺(jué)機(jī)制及多模態(tài)融合的相關(guān)基礎(chǔ)理論和實(shí)際應(yīng)用技術(shù)。全書分二維圖像篇、三維點(diǎn)云篇、光度立體篇、多模態(tài)融合篇等四個(gè)篇章對(duì)相關(guān)理論和方法進(jìn)行系統(tǒng)介紹。

作者簡(jiǎn)介

　　在東北大學(xué)完成本科、碩士和博士的學(xué)業(yè)。1982.2留校任教至今，1997.6晉升教授。1993-1994公派日本留學(xué)。

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